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assunto:
Technology
Physics, Applied
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| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
|---|---|---|---|
| 1 |
Material Type: Artigo
|
|
A bent Laue analyzer for fluorescence EXAFS detectionZhong, Z. ; Chapman, L. D. ; Bunker, B. A. ; Bunker, G. B. ; Fischetti, R. ; Segre, C. U.Journal of synchrotron radiation, 1999-05, Vol.6 (3), p.212-214 [Periódico revisado por pares]5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of CrystallographyTexto completo disponível |
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