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The silicon-silicon dioxide system
The silicon-silicon dioxide system
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The silicon-silicon dioxide system

Gray, P.V.

Proceedings of the IEEE, 1969-01, Vol.57 (9), p.1543-1551 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Stopping Cross Sections for 0.3- to 1.7-MeV Helium Ions in Silicon and Silicon Dioxide
Stopping Cross Sections for 0.3- to 1.7-MeV Helium Ions in Silicon and Silicon Dioxide
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Stopping Cross Sections for 0.3- to 1.7-MeV Helium Ions in Silicon and Silicon Dioxide

Thompson, D. A. ; Mackintosh, W. D.

Journal of applied physics, 1971-01, Vol.42 (10), p.3969-3976 [Periódico revisado por pares]

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3
The scattering of electrons by surface oxide charges and by lattice vibrations at the silicon-silicon dioxide interface
The scattering of electrons by surface oxide charges and by lattice vibrations at the silicon-silicon dioxide interface
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The scattering of electrons by surface oxide charges and by lattice vibrations at the silicon-silicon dioxide interface

Sah, C.T. ; Ning, T.H. ; Tschopp, L.L.

Surface science, 1972-01, Vol.32 (3), p.561-575 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Electrical Conduction and Dielectric Breakdown in Silicon Dioxide Films on Silicon
Electrical Conduction and Dielectric Breakdown in Silicon Dioxide Films on Silicon
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Electrical Conduction and Dielectric Breakdown in Silicon Dioxide Films on Silicon

Osburn, C. M. ; Weitzman, E. J.

Journal of the Electrochemical Society, 1972, Vol.119 (5), p.603 [Periódico revisado por pares]

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5
Radiation-Induced Perturbations of the Electrical Properties of the Silicon-Silicon Dioxide Interface
Radiation-Induced Perturbations of the Electrical Properties of the Silicon-Silicon Dioxide Interface
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Radiation-Induced Perturbations of the Electrical Properties of the Silicon-Silicon Dioxide Interface

Hughes, H. L.

IEEE transactions on nuclear science, 1969-01, Vol.16 (6), p.195-202 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
Laser-scanning photoemission measurements of the silicon-silicon dioxide interface
Laser-scanning photoemission measurements of the silicon-silicon dioxide interface
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Laser-scanning photoemission measurements of the silicon-silicon dioxide interface

Williams, R. ; Woods, M. H.

Journal of applied physics, 1972-10, Vol.43 (10), p.4142-4147 [Periódico revisado por pares]

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7
Barrier energies in metal-silicon dioxide-silicon structures
Barrier energies in metal-silicon dioxide-silicon structures
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Barrier energies in metal-silicon dioxide-silicon structures

Deal, B.E. ; Snow, E.H. ; Mead, C.A.

The Journal of physics and chemistry of solids, 1966-01, Vol.27 (11), p.1873-1879 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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8
Electronic Processes in Metal-Silicon Nitride-Silicon Dioxide-Silicon Systems
Electronic Processes in Metal-Silicon Nitride-Silicon Dioxide-Silicon Systems
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Electronic Processes in Metal-Silicon Nitride-Silicon Dioxide-Silicon Systems

Kobayashi, Keizo ; Ohta, Kuniichi

Japanese Journal of Applied Physics, 1972-01, Vol.11 (4), p.538-545 [Periódico revisado por pares]

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9
Surface states at steam-grown silicon-silicon dioxide interfaces
Surface states at steam-grown silicon-silicon dioxide interfaces
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Surface states at steam-grown silicon-silicon dioxide interfaces

Berglund, C.N.

IEEE transactions on electron devices, 1966-10, Vol.ED-13 (10), p.701-705 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Low-energy ion bombardment of silicon dioxide films on silicon
Low-energy ion bombardment of silicon dioxide films on silicon
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Low-energy ion bombardment of silicon dioxide films on silicon

McCaughan, Daniel V. ; Murphy, Vincent T.

Journal of applied physics, 1973-05, Vol.44 (5), p.2008-2017 [Periódico revisado por pares]

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