skip to main content
Idioma:
Including "silica"   Just search Silicon Dioxide
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Refinado por: data de publicação: 1974Até1989 remover tipo de recurso: Artigos remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Trap creation in silicon dioxide produced by hot electrons
Trap creation in silicon dioxide produced by hot electrons
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Trap creation in silicon dioxide produced by hot electrons

DI MARIA, D. J ; STASIAK, J. W

Journal of applied physics, 1989-03, Vol.65 (6), p.2342-2356 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Thin films of Y-Ba-Cu-O on silicon and silicon dioxide
Thin films of Y-Ba-Cu-O on silicon and silicon dioxide
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Thin films of Y-Ba-Cu-O on silicon and silicon dioxide

MOGRO-CAMPERO, A ; TURNER, L. G

Applied physics letters, 1988-04, Vol.52 (14), p.1185-1186 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
Deposition of silicon dioxide and silicon nitride by remote plasma enhanced chemical vapor deposition
Deposition of silicon dioxide and silicon nitride by remote plasma enhanced chemical vapor deposition
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Deposition of silicon dioxide and silicon nitride by remote plasma enhanced chemical vapor deposition

Lucovsky, G. ; Richard, P. D. ; Tsu, D. V. ; Lin, S. Y. ; Markunas, R. J.

Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1986-05, Vol.4 (3), p.681-688 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Silicon-silicon dioxide interface: an infrared study
Silicon-silicon dioxide interface: an infrared study
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Silicon-silicon dioxide interface: an infrared study

BOYD, I. W ; WILSON, J. I. B

Journal of applied physics, 1987-10, Vol.62 (8), p.3195-3200 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Self-consistent calculation of electron and hole inversion charges at silicon-silicon dioxide interfaces
Self-consistent calculation of electron and hole inversion charges at silicon-silicon dioxide interfaces
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Self-consistent calculation of electron and hole inversion charges at silicon-silicon dioxide interfaces

MOGLESTUE, C

Journal of applied physics, 1986-05, Vol.59 (9), p.3175-3183 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
A model for phosphorus segregation at the silicon-silicon dioxide interface
A model for phosphorus segregation at the silicon-silicon dioxide interface
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A model for phosphorus segregation at the silicon-silicon dioxide interface

Lau, F. ; Mader, L. ; Mazure, C. ; Werner, Ch ; Orlowski, M.

Applied Physics A Solids and Surfaces, 1989-12, Vol.49 (6), p.671-675 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Low-temperature deposition of high-quality silicon dioxide by plasma-enhanced chemical vapor deposition
Low-temperature deposition of high-quality silicon dioxide by plasma-enhanced chemical vapor deposition
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Low-temperature deposition of high-quality silicon dioxide by plasma-enhanced chemical vapor deposition

BATEY, J ; TIERNEY, E

Journal of applied physics, 1986-11, Vol.60 (9), p.3136-3145 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
A reassessment of electron escape depths in silicon and thermally grown silicon dioxide thin films
A reassessment of electron escape depths in silicon and thermally grown silicon dioxide thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A reassessment of electron escape depths in silicon and thermally grown silicon dioxide thin films

Hochella, M.F. ; Carim, A.H.

Surface science, 1988, Vol.197 (3), p.L260-L268 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Infrared spectroscopy of thin silicon dioxide on silicon
Infrared spectroscopy of thin silicon dioxide on silicon
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Infrared spectroscopy of thin silicon dioxide on silicon

OLSEN, J. E ; SHIMURA, F

Applied physics letters, 1988-11, Vol.53 (20), p.1934-1936 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Light-induced degradation at the silicon/silicon dioxide interface
Light-induced degradation at the silicon/silicon dioxide interface
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Light-induced degradation at the silicon/silicon dioxide interface

GRUENBAUM, P. E ; SINTON, R. A ; SWANSON, R. M

Applied physics letters, 1988-04, Vol.52 (17), p.1407-1409 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (37.324)

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1976  (3.877)
  2. 1976Até1978  (6.222)
  3. 1979Até1981  (7.833)
  4. 1982Até1985  (13.272)
  5. Após 1985  (15.881)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (44.798)
  2. Japonês  (10.102)
  3. Francês  (613)
  4. Alemão  (273)
  5. Russo  (60)
  6. Coreano  (48)
  7. Espanhol  (45)
  8. Português  (39)
  9. Norueguês  (19)
  10. Italiano  (12)
  11. Holandês  (6)
  12. Polonês  (5)
  13. Croatian  (3)
  14. Chinês  (3)
  15. Africâner  (3)
  16. Catalão  (2)
  17. Dinamarquês  (2)
  18. Tcheco  (1)
  19. Árabe  (1)
  20. Basco  (1)
  21. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.