Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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Thermal Problems of the CW Injection LaserKeyes, R. W.IBM journal of research and development, 1971-09, Vol.15 (5), p.401-404 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Reliability Modeling for Fault-Tolerant ComputersBouricius, W.G. ; Carter, W.C. ; Jessep, D.C. ; Schneider, P.R. ; Wadia, A.B.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1306-1311 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
3 |
Material Type: Artigo
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Computer Diagnosis Using the Blocking Gate ApproachRamamoorthy, C.V. ; Mayeda, W.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1294-1299 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
4 |
Material Type: Artigo
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Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n CodeTohma, Y. ; Ohyama, Y. ; Sakai, R.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1270-1275 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
5 |
Material Type: Artigo
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Arithmetic Error Codes: Cost and Effectiveness Studies for Application in Digital System DesignAvizienis, A.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1322-1331 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
6 |
Material Type: Artigo
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Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational NetworksRussell, J.D. ; Kime, C.R.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1276-1285 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
7 |
Material Type: Artigo
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Analysis of Parallel SystemsBredt, T.H.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1403-1407 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
8 |
Material Type: Artigo
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Soviet Progress in the Design of Fault-Tolerant Digital MachinesShort, R.A. ; Goldberg, J.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1337-1352 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
9 |
Material Type: Artigo
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On the Design of Minimum Length Fault Tests for Combinational CircuitsBearnson, L.W. ; Carroll, C.C.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1353-1356 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |
10 |
Material Type: Artigo
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A Fault-Tolerant Information Processing Concept for Space VehiclesHopkins, A.L.IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1394-1403 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |