Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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A Basis for the Quantitative Comparison of Computer Number SystemsOng, S ; Atkins, D EIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.359-369 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
2 |
Material Type: Artigo
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Finite Precision Rational Arithmetic: An Arithmetic UnitKORNERUP, P ; MATULA, D. WIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.378-388 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
3 |
Material Type: Artigo
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Comparison of Memory Chip Organizations vs Reliability in Virtual MemoriesMatick, Richard E.IEEE transactions on reliability, 1983-04, Vol.R-32 (1), p.48-58 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
4 |
Material Type: Artigo
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The Design of Error Checkers for Self-Checking Residue Number ArithmeticJENKINS, W. KIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.388-396 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
5 |
Material Type: Artigo
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Microelectronic System Reliability PredictionOconnor, P D TIEEE transactions on reliability, 1983-04, Vol.R-32 (1), p.9-13 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
6 |
Material Type: Artigo
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Reliability Analysis of a Dual-Redundant Engine ControllerGai, Eliezar ; Harrison, James V. ; Luppold, Robert H.IEEE transactions on reliability, 1983-04, Vol.R-32 (1), p.14-20 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
7 |
Material Type: Artigo
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CADAC: A Controlled-Precision Decimal Arithmetic UnitCOHEN, M. S ; HULL, T. E ; HAMACHER, V. CIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.370-377 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
8 |
Material Type: Artigo
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Concurrent Error Detection in Multiply and Divide ArraysPATEL, J. H ; FUNG, L. YIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.417-422 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
9 |
Material Type: Artigo
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On Some Reliability Implications of Electronic Circuit DesignPullen, Keats A.IEEE transactions on reliability, 1983-04, Vol.R-32 (1), p.106-110 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
10 |
Material Type: Artigo
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A Simple Approach to the Error Analysis of Division-Free Numerical AlgorithmsTsao, N-KIEEE transactions on computers, 1983-04, Vol.C-32 (4), p.343-351 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |