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1
An on-line BIST RAM architecture with self-repair capabilities
An on-line BIST RAM architecture with self-repair capabilities
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An on-line BIST RAM architecture with self-repair capabilities

Benso, A. ; Chiusano, S. ; Di Natale, G. ; Prinetto, P.

IEEE transactions on reliability, 2002-03, Vol.51 (1), p.123-128 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Reliability modeling for safety-critical software
Reliability modeling for safety-critical software
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Reliability modeling for safety-critical software

Schneidewind, N.F.

IEEE transactions on reliability, 1997-03, Vol.46 (1), p.88-98 [Periódico revisado por pares]

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3
Interdependence between safety-control policy and multiple-sensor schemes via Dempster-Shafer theory
Interdependence between safety-control policy and multiple-sensor schemes via Dempster-Shafer theory
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Interdependence between safety-control policy and multiple-sensor schemes via Dempster-Shafer theory

Inagaki, T.

IEEE transactions on reliability, 1991-06, Vol.40 (2), p.182-188 [Periódico revisado por pares]

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4
Computationally-efficient phased-mission reliability analysis for systems with variable configurations
Computationally-efficient phased-mission reliability analysis for systems with variable configurations
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Computationally-efficient phased-mission reliability analysis for systems with variable configurations

Somani, A.K. ; Ritcey, J.A. ; Au, S.H.L.

IEEE transactions on reliability, 1992-12, Vol.41 (4), p.504-511 [Periódico revisado por pares]

NEW YORK: IEEE

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5
Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components
Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components
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Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components

Aven, Terje

IEEE transactions on reliability, 1985-12, Vol.R-34 (5), p.473-479 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Automated analysis of phased-mission reliability
Automated analysis of phased-mission reliability
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Automated analysis of phased-mission reliability

Dugan, J.B.

IEEE transactions on reliability, 1991-04, Vol.40 (1), p.45-52 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
In-orbit experiment on the fault-tolerant space computer aboard the satellite Hiten
In-orbit experiment on the fault-tolerant space computer aboard the satellite Hiten
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In-orbit experiment on the fault-tolerant space computer aboard the satellite Hiten

Takano, T. ; Yamada, T. ; Shutoh, K. ; Kanekawa, N.

IEEE transactions on reliability, 1996-12, Vol.45 (4), p.624-631 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Reliability Modeling Using SHARPE
Reliability Modeling Using SHARPE
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Reliability Modeling Using SHARPE

Sahner, Robin A. ; Trivedi, Kishor S.

IEEE transactions on reliability, 1987-06, Vol.R-36 (2), p.186-193 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Analysis of satellite on-board time-space-time switching networks with multiple separated space switches
Analysis of satellite on-board time-space-time switching networks with multiple separated space switches
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Analysis of satellite on-board time-space-time switching networks with multiple separated space switches

Kang, Sang Hyuk ; Chung, Min Young ; Sung, Dan Keun

IEEE transactions on reliability, 1996-06, Vol.45 (2), p.316-320 [Periódico revisado por pares]

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10
Evolution of component-qualification methods for local component-manufacturers for telecom applications
Evolution of component-qualification methods for local component-manufacturers for telecom applications
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Evolution of component-qualification methods for local component-manufacturers for telecom applications

Settur, S. ; Kumar, A.K.M. ; Lakshmi, Y.V.S.

IEEE transactions on reliability, 1998-09, Vol.47 (3), p.SP346-SP354 [Periódico revisado por pares]

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