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Refinado por: Nome da Publicação: Applied Physics Letters remover assunto: Substrates remover
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Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties
Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties
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Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties

Zviagin, V. ; Kumar, Y. ; Lorite, I. ; Esquinazi, P. ; Grundmann, M. ; Schmidt-Grund, R.

Applied physics letters, 2016-03, Vol.108 (13) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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2
Polarization manipulation of surface acoustic waves by metallization patterns on a piezoelectric substrate
Polarization manipulation of surface acoustic waves by metallization patterns on a piezoelectric substrate
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Polarization manipulation of surface acoustic waves by metallization patterns on a piezoelectric substrate

Weser, R. ; Darinskii, A. N. ; Schmidt, H.

Applied physics letters, 2020-10, Vol.117 (14) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
Integration and characterization of micron-sized YIG structures with very low Gilbert damping on arbitrary substrates
Integration and characterization of micron-sized YIG structures with very low Gilbert damping on arbitrary substrates
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Integration and characterization of micron-sized YIG structures with very low Gilbert damping on arbitrary substrates

Trempler, P. ; Dreyer, R. ; Geyer, P. ; Hauser, C. ; Woltersdorf, G. ; Schmidt, G.

Applied physics letters, 2020-12, Vol.117 (23) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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4
Fabrication and electrical characterization of Si-based rolled-up microtubes
Fabrication and electrical characterization of Si-based rolled-up microtubes
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Fabrication and electrical characterization of Si-based rolled-up microtubes

Cavallo, F. ; Songmuang, R. ; Schmidt, O. G.

Applied physics letters, 2008-10, Vol.93 (14), p.143113-143113-3 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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5
Domain wall generated by graded interlayer coupling in Co/Pt/Co film with perpendicular anisotropy
Domain wall generated by graded interlayer coupling in Co/Pt/Co film with perpendicular anisotropy
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Domain wall generated by graded interlayer coupling in Co/Pt/Co film with perpendicular anisotropy

Matczak, M. ; Schäfer, R. ; Urbaniak, M. ; Szymański, B. ; Kuświk, P. ; Jarosz, A. ; Schmidt, M. ; Aleksiejew, J. ; Jurga, S. ; Stobiecki, F.

Applied physics letters, 2015-07, Vol.107 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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6
Rolling up SiGe on insulator
Rolling up SiGe on insulator
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Rolling up SiGe on insulator

Cavallo, F. ; Songmuang, R. ; Ulrich, C. ; Schmidt, O. G.

Applied physics letters, 2007-05, Vol.90 (19), p.193120-193120-3 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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7
Direct evidence of strain transfer for InAs island growth on compliant Si substrates
Direct evidence of strain transfer for InAs island growth on compliant Si substrates
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Direct evidence of strain transfer for InAs island growth on compliant Si substrates

Marçal, L. A. B. ; Richard, M.-I. ; Magalhães-Paniago, R. ; Cavallo, F. ; Lagally, M. G. ; Schmidt, O. G. ; Schülli, T. Ü. ; Deneke, Ch ; Malachias, Angelo

Applied physics letters, 2015-04, Vol.106 (15) [Periódico revisado por pares]

United States

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8
Molecular-beam epitaxy of (Zn,Mn)Se on Si(100)
Molecular-beam epitaxy of (Zn,Mn)Se on Si(100)
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Molecular-beam epitaxy of (Zn,Mn)Se on Si(100)

Slobodskyy, T. ; Rüster, C. ; Fiederling, R. ; Keller, D. ; Gould, C. ; Ossau, W. ; Schmidt, G. ; Molenkamp, L. W.

Applied physics letters, 2004-12, Vol.85 (25), p.6215-6217 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Scanning tunneling microscopy of ordered coated cluster layers on graphite
Scanning tunneling microscopy of ordered coated cluster layers on graphite
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Scanning tunneling microscopy of ordered coated cluster layers on graphite

Durston, P. J. ; Schmidt, J. ; Palmer, R. E. ; Wilcoxon, J. P.

Applied physics letters, 1997-11, Vol.71 (20), p.2940-2942 [Periódico revisado por pares]

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