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Refinado por: Nome da Publicação: Applied Physics Letters remover assunto: Thin Films remover
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Dependence of transition width on current and critical current in transition-edge sensors
Dependence of transition width on current and critical current in transition-edge sensors
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Dependence of transition width on current and critical current in transition-edge sensors

Morgan, K. M. ; Pappas, C. G. ; Bennett, D. A. ; Gard, J. D. ; Hays-Wehle, J. P. ; Hilton, G. C. ; Reintsema, C. D. ; Schmidt, D. R. ; Ullom, J. N. ; Swetz, D. S.

Applied physics letters, 2017-05, Vol.110 (21) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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2
Trapping on demand: External regulation of excitation energy transfer in a photoswitchable smart matrix
Trapping on demand: External regulation of excitation energy transfer in a photoswitchable smart matrix
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Trapping on demand: External regulation of excitation energy transfer in a photoswitchable smart matrix

Schmidt, R. ; Pärs, M. ; Weller, T. ; Thelakkat, M. ; Köhler, J.

Applied physics letters, 2014-01, Vol.104 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
Femtosecond-time-resolved imaging of the dielectric function of ZnO in the visible to near-IR spectral range
Femtosecond-time-resolved imaging of the dielectric function of ZnO in the visible to near-IR spectral range
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Femtosecond-time-resolved imaging of the dielectric function of ZnO in the visible to near-IR spectral range

Herrfurth, O. ; Pflug, T. ; Olbrich, M. ; Grundmann, M. ; Horn, A. ; Schmidt-Grund, R.

Applied physics letters, 2019-11, Vol.115 (21) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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4
Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties
Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties
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Ellipsometric investigation of ZnFe2O4 thin films in relation to magnetic properties

Zviagin, V. ; Kumar, Y. ; Lorite, I. ; Esquinazi, P. ; Grundmann, M. ; Schmidt-Grund, R.

Applied physics letters, 2016-03, Vol.108 (13) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
Configurable error correction of code-division multiplexed TES detectors with a cryotron switch
Configurable error correction of code-division multiplexed TES detectors with a cryotron switch
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Configurable error correction of code-division multiplexed TES detectors with a cryotron switch

Weber, Joel C. ; Fowler, Joseph W. ; Durkin, Malcolm ; Morgan, Kelsey M. ; Mates, John A. B. ; Bennett, Doug A. ; Doriese, W. Bertrand ; Schmidt, Daniel R. ; Hilton, Gene C. ; Swetz, Daniel S. ; Ullom, Joel N.

Applied physics letters, 2019-06, Vol.114 (23) [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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6
Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In2O3 thin film
Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In2O3 thin film
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Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In2O3 thin film

Schmidt-Grund, R. ; Krauß, H. ; Kranert, C. ; Bonholzer, M. ; Grundmann, M.

Applied physics letters, 2014-09, Vol.105 (11) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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7
A thin-film cryotron suitable for use as an ultra-low-temperature switch
A thin-film cryotron suitable for use as an ultra-low-temperature switch
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A thin-film cryotron suitable for use as an ultra-low-temperature switch

Lowell, Peter J. ; Mates, John A. B. ; Doriese, W. Bertrand ; Hilton, Gene C. ; Morgan, Kelsey M. ; Swetz, Daniel S. ; Ullom, Joel N. ; Schmidt, Daniel R.

Applied physics letters, 2016-10, Vol.109 (14) [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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8
Ellipsometric investigation of ZnFe{sub 2}O{sub 4} thin films in relation to magnetic properties
Ellipsometric investigation of ZnFe{sub 2}O{sub 4} thin films in relation to magnetic properties
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Ellipsometric investigation of ZnFe{sub 2}O{sub 4} thin films in relation to magnetic properties

Zviagin, V. ; Kumar, Y. ; Lorite, I. ; Esquinazi, P. ; Grundmann, M. ; Schmidt-Grund, R.

Applied physics letters, 2016-03, Vol.108 (13) [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In{sub 2}O{sub 3} thin film
Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In{sub 2}O{sub 3} thin film
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Temperature dependence of the dielectric function in the spectral range (0.5–8.5) eV of an In{sub 2}O{sub 3} thin film

Schmidt-Grund, R. ; Krauß, H. ; Kranert, C. ; Bonholzer, M. ; Grundmann, M.

Applied physics letters, 2014-09, Vol.105 (11) [Periódico revisado por pares]

United States

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10
Electrically modulated magnetoelectric sensors
Electrically modulated magnetoelectric sensors
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Electrically modulated magnetoelectric sensors

Hayes, P. ; Salzer, S. ; Reermann, J. ; Yarar, E. ; Röbisch, V. ; Piorra, A. ; Meyners, D. ; Höft, M. ; Knöchel, R. ; Schmidt, G. ; Quandt, E.

Applied physics letters, 2016-05, Vol.108 (18) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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