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Refinado por: autor: Claeys, C remover assunto: Dispositivos Eletrônicos remover
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DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices
DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices
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DIBL behavior of triple gate FinFETs with SEG on biaxial strained devices

Sara Dereste dos Santos Talitha Nicoletti; João Antonio Martino 1959-; Eddy Simoen; Cor Claeys

Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010 v.31, n.1, p. 51-58, 2010

New Jersey 2010

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  1. Claeys, C
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  3. Martino, J
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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