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A supercritical fluid chromatograph for physicochemical studies
A supercritical fluid chromatograph for physicochemical studies
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A supercritical fluid chromatograph for physicochemical studies

BRUNO, T. S

Journal of research of the National Institute of Standards and Technology, 1989-03, Vol.94 (2), p.105-112

Gaithersburg, MD: National Institute of Standards and Technology

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2
On an integro-PDE arising from the balance equation of crystal growth—Analytical solutions and simplifications
On an integro-PDE arising from the balance equation of crystal growth—Analytical solutions and simplifications
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On an integro-PDE arising from the balance equation of crystal growth—Analytical solutions and simplifications

Pan, Dongfeng ; Mersmann, Alfons

Applied mathematical modelling, 1992-04, Vol.16 (4), p.214-218 [Periódico revisado por pares]

WOBURN: Elsevier Inc

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3
An analytical solution for the unidirectional solidification problem
An analytical solution for the unidirectional solidification problem
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An analytical solution for the unidirectional solidification problem

Davey, K.

Applied mathematical modelling, 1993-12, Vol.17 (12), p.658-663 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

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4
Complex logarithms, Cauchy principal values, and the complex variable boundary element method
Complex logarithms, Cauchy principal values, and the complex variable boundary element method
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Complex logarithms, Cauchy principal values, and the complex variable boundary element method

Whitley, Robert J. ; Hromadka, T.V.

Applied mathematical modelling, 1994-08, Vol.18 (8), p.423-428 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

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5
A 1-D analytical model for the thermally induced stresses in the mold surface during die casting
A 1-D analytical model for the thermally induced stresses in the mold surface during die casting
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A 1-D analytical model for the thermally induced stresses in the mold surface during die casting

Hattel, J.H. ; Hansen, P.N.

Applied mathematical modelling, 1994-10, Vol.18 (10), p.550-559 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Elsevier Inc

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6
Calculations of the Equilibrium Vapor Pressure of Water over Adhering 50-200-nm Spheres
Calculations of the Equilibrium Vapor Pressure of Water over Adhering 50-200-nm Spheres
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Calculations of the Equilibrium Vapor Pressure of Water over Adhering 50-200-nm Spheres

Crouzet, Yoan ; Marlow, William H.

Aerosol science and technology, 1995-01, Vol.22 (1), p.43-59 [Periódico revisado por pares]

London: Taylor & Francis Group

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7
Sediment threshold
Sediment threshold
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Sediment threshold

Dey, Subhasish

Applied mathematical modelling, 1999-05, Vol.23 (5), p.399-417 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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8
Refined semi-analytical design sensitivities
Refined semi-analytical design sensitivities
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Refined semi-analytical design sensitivities

de Boer, H. ; van Keulen, F.

International journal of solids and structures, 2000-11, Vol.37 (46), p.6961-6980 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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9
A first order perturbation analysis of a non-ideal crack in a piezoelectric material
A first order perturbation analysis of a non-ideal crack in a piezoelectric material
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A first order perturbation analysis of a non-ideal crack in a piezoelectric material

Huang, Zhenyu ; Kuang, Zhen-Bang

International journal of solids and structures, 2001-10, Vol.38 (40), p.7261-7281 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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10
A Critical Evaluation of Interlaboratory Data on Total, Elemental, and Isotopic Carbon in the Carbonaceous Particle Reference Material, NIST SRM 1649a
A Critical Evaluation of Interlaboratory Data on Total, Elemental, and Isotopic Carbon in the Carbonaceous Particle Reference Material, NIST SRM 1649a
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A Critical Evaluation of Interlaboratory Data on Total, Elemental, and Isotopic Carbon in the Carbonaceous Particle Reference Material, NIST SRM 1649a

Currie, L A ; Benner, Jr, B A ; Kessler, J D ; Klinedinst, D B ; Klouda, G A ; Marolf, J V ; Slater, J F ; Wise, S A ; Cachier, H ; Cary, R ; Chow, J C ; Watson, J ; Druffel, E R M ; Masiello, C A ; Eglinton, T I ; Pearson, A ; Reddy, C M ; Gustafsson, Ö ; Quinn, J G ; Hartmann, P C ; Hedges, J I ; Prentice, K M ; Kirchstetter, T W ; Novakow, T ; Puxbaum, H ; Schmid, H

Journal of research of the National Institute of Standards and Technology, 2002-05, Vol.107 (3), p.279-298

United States: National Institute of Standards and Technology

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