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Refinado por: Nome da Publicação: International Journal Of Nanoscience remover assunto: Materials Science remover
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS

ROSAZ, G ; SALEM, B ; PAUC, N ; GENTILE, P ; POTIÉ, A ; SOLANKI, A ; BASSANI, F ; BARON, T ; CAGNON, L

International journal of nanoscience, 2012-08, Vol.11 (4), p.1240011-1240015 [Periódico revisado por pares]

World Scientific Publishing Company

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