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3D CNN-Based Semantic Labeling Approach for Mobile Laser Scanning Data
3D CNN-Based Semantic Labeling Approach for Mobile Laser Scanning Data
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3D CNN-Based Semantic Labeling Approach for Mobile Laser Scanning Data

Nagy, Balazs ; Benedek, Csaba

IEEE sensors journal, 2019-11, Vol.19 (21), p.10034-10045 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
3D Deep Learning on Medical Images: A Review
3D Deep Learning on Medical Images: A Review
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3D Deep Learning on Medical Images: A Review

Singh, Satya P ; Wang, Lipo ; Gupta, Sukrit ; Goli, Haveesh ; Padmanabhan, Parasuraman ; Gulyás, Balázs

Sensors (Basel, Switzerland), 2020-09, Vol.20 (18), p.5097 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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3
3D Investigations of the Internal Convection Coefficient and Homogeneity in Reflow Ovens
3D Investigations of the Internal Convection Coefficient and Homogeneity in Reflow Ovens
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3D Investigations of the Internal Convection Coefficient and Homogeneity in Reflow Ovens

Illes, B. ; Krammer, O. ; Harsanyi, G. ; Illyefavi-Vitez, Z. ; Szabo, A.

2007 30th International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE), 2007, p.320-325

IEEE

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4
3D thermal model to investigate component displacement phenomenon during reflow soldering
3D thermal model to investigate component displacement phenomenon during reflow soldering
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3D thermal model to investigate component displacement phenomenon during reflow soldering

ILLES, Balazs ; HARSANYI, Gabor

Microelectronics and reliability, 2008-07, Vol.48 (7), p.1062-1068 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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5
5G Applications From Vision to Reality: Multi-Operator Orchestration
5G Applications From Vision to Reality: Multi-Operator Orchestration
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5G Applications From Vision to Reality: Multi-Operator Orchestration

Sonkoly, Balazs ; Szabo, Robert ; Nemeth, Balazs ; Czentye, Janos ; Haja, David ; Szalay, Mark ; Doka, Janos ; Gero, Balazs P. ; Jocha, David ; Toka, Laszlo

IEEE journal on selected areas in communications, 2020-07, Vol.38 (7), p.1401-1416 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
5G Evolution: What's Next?
5G Evolution: What's Next?
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5G Evolution: What's Next?

Bertenyi, Balazs

IEEE wireless communications, 2021-02, Vol.28 (1), p.4-8 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
5G on the Roads: Latency-optimized Federated Analytics in the Vehicular Edge
5G on the Roads: Latency-optimized Federated Analytics in the Vehicular Edge
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5G on the Roads: Latency-optimized Federated Analytics in the Vehicular Edge

Toka, Laszlo ; Konrad, Mark ; Pelle, Istvan ; Sonkoly, Balazs ; Szabo, Marcell ; Sharma, Bhavishya ; Kumar, Shashwat ; Annavazzala, Madhuri ; Deekshitula, Sree Teja ; Antony Franklin, A.

IEEE access, 2023-01, Vol.11, p.1-1 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
Accelerated Griffin-Lim Algorithm: A Fast and Provably Converging Numerical Method for Phase Retrieval
Accelerated Griffin-Lim Algorithm: A Fast and Provably Converging Numerical Method for Phase Retrieval
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Accelerated Griffin-Lim Algorithm: A Fast and Provably Converging Numerical Method for Phase Retrieval

Nenov, Rossen ; Nguyen, Dang-Khoa ; Balazs, Peter ; Ioan Bot, Radu

IEEE transactions on signal processing, 2024, Vol.72, p.190-202 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Accelerating the Optimization of a Segmentation Ensemble using Image Pyramids
Accelerating the Optimization of a Segmentation Ensemble using Image Pyramids
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Accelerating the Optimization of a Segmentation Ensemble using Image Pyramids

Toth, Janos ; Kapusi, Tibor Peter ; Harangi, Balazs ; Toman, Henrietta ; Hajdu, Andras

2019 11th International Symposium on Image and Signal Processing and Analysis (ISPA), 2019, p.43-48

IEEE

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10
Accurate Floating-Point Argument Calculation for Sine-Fitting Algorithms
Accurate Floating-Point Argument Calculation for Sine-Fitting Algorithms
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Accurate Floating-Point Argument Calculation for Sine-Fitting Algorithms

Renczes, Balazs

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2017-11, Vol.66 (11), p.2988-2996 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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