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Refinado por: Nome da Publicação: Electronics remover assunto: Physical Sciences remover
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1
Multiple Bit Error Tolerant Galois Field Architectures Over GF (2m)
Multiple Bit Error Tolerant Galois Field Architectures Over GF (2m)
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Multiple Bit Error Tolerant Galois Field Architectures Over GF (2m)

Poolakkaparambil, Mahesh ; Mathew, Jimson ; Jabir, Abusaleh

Electronics (Basel), 2012-06, Vol.1 (1), p.3-22 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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2
Radiation Effects in Carbon Nanoelectronics
Radiation Effects in Carbon Nanoelectronics
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Radiation Effects in Carbon Nanoelectronics

Cress, Cory D. ; McMorrow, Julian J. ; Robinson, Jeremy T. ; Landi, Brian J. ; Hubbard, Seth M. ; Messenger, Scott R.

Electronics (Basel), 2012-07, Vol.1 (1), p.23-31 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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3
Electronics — A New Multidisciplinary Open Access Journal
Electronics — A New Multidisciplinary Open Access Journal
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electronics — A New Multidisciplinary Open Access Journal

Bassiouni, Mostafa

Electronics (Basel), 2012-09, Vol.1 (1), p.1-2 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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4
Implantable Devices: Issues and Challenges
Implantable Devices: Issues and Challenges
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Implantable Devices: Issues and Challenges

Bazaka, Kateryna ; Jacob, Mohan

Electronics, 2012-12, Vol.2 (1), p.1-34 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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5
Design of a Parallel Sampling Encoder for Analog to Information (A2I) Converters: Theory, Architecture and CMOS Implementation
Design of a Parallel Sampling Encoder for Analog to Information (A2I) Converters: Theory, Architecture and CMOS Implementation
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Design of a Parallel Sampling Encoder for Analog to Information (A2I) Converters: Theory, Architecture and CMOS Implementation

Murray, Thomas ; Pouliquen, Philippe ; Andreou, Andreas

Electronics (Basel), 2013-03, Vol.2 (1), p.57-79 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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6
Fault Tree Analysis for Safety/Security Verification in Aviation Software
Fault Tree Analysis for Safety/Security Verification in Aviation Software
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Fault Tree Analysis for Safety/Security Verification in Aviation Software

Kornecki, Andrew ; Liu, Mingye

Electronics (Basel), 2013-03, Vol.2 (1), p.41-56 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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7
Analysis and Design of a Higher Current ZVS-PWM Converter for Industrial Applications
Analysis and Design of a Higher Current ZVS-PWM Converter for Industrial Applications
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Analysis and Design of a Higher Current ZVS-PWM Converter for Industrial Applications

Golbon, Navid ; Moschopoulos, Gerry

Electronics (Basel), 2013-03, Vol.2 (1), p.94-112 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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8
Far Field Extrapolation from Near Field Interactions and Shielding Influence Investigations Based on a FE-PEEC Coupling Method
Far Field Extrapolation from Near Field Interactions and Shielding Influence Investigations Based on a FE-PEEC Coupling Method
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Far Field Extrapolation from Near Field Interactions and Shielding Influence Investigations Based on a FE-PEEC Coupling Method

Clavel, Edith ; Tran, Thanh-Son ; Aimé, Jérémie ; Meunier, Gérard ; Roudet, James

Electronics (Basel), 2013-03, Vol.2 (1), p.80-93 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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9
High-Feedback Operation of Power Electronic Converters
High-Feedback Operation of Power Electronic Converters
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High-Feedback Operation of Power Electronic Converters

Zhusubaliyev, Zhanybai ; Mosekilde, Erik ; Andriyanov, Alexey ; Mikhal'chenko, Gennady

Electronics, 2013-03, Vol.2 (2), p.113-167 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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10
Effects of Localized Trap-States and Corrugation on Charge Transport in Graphene Nanoribbons
Effects of Localized Trap-States and Corrugation on Charge Transport in Graphene Nanoribbons
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Effects of Localized Trap-States and Corrugation on Charge Transport in Graphene Nanoribbons

Roslyak, Oleksiy ; Aparajita, Upali ; Gumbs, Godfrey ; Huang, Danhong

Electronics (Basel), 2013-06, Vol.2 (2), p.178-191 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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