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An Investigation on Quantum-Inspired Algorithms for Portfolio Optimization Across Global Markets
An Investigation on Quantum-Inspired Algorithms for Portfolio Optimization Across Global Markets
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An Investigation on Quantum-Inspired Algorithms for Portfolio Optimization Across Global Markets

Chou, Yao-Hsin ; Chang, Ming-Ho ; Jiang, Yu-Chi ; Kuo, Shu-Yu ; Kung, Sun-Yuan ; Sheu, Bing J.

IEEE nanotechnology magazine, 2024-12, Vol.18 (4), p.1-8

New York: IEEE

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2
Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
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Workload-Aware Periodic Interconnect BIST

Sadeghi-Kohan, Somayeh ; Hellebrand, Sybille ; Wunderlich, Hans-Joachim

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.50-55

Piscataway: IEEE

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3
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution

Hossain, Muhammad Monir ; Azar, Kimia Zamiri ; Rahman, Fahim ; Farahmandi, Farimah ; Tehranipoor, Mark M.

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.7-16

IEEE

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4
Mimer: A Web-Based Tool for Knowledge Discovery in Multi-Criteria Decision Support [Application Notes]
Mimer: A Web-Based Tool for Knowledge Discovery in Multi-Criteria Decision Support [Application Notes]
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Mimer: A Web-Based Tool for Knowledge Discovery in Multi-Criteria Decision Support [Application Notes]

Smedberg, Henrik ; Bandaru, Sunith ; Riveiro, Maria ; Ng, Amos H.C.

IEEE computational intelligence magazine, 2024-08, Vol.19 (3), p.73-87

IEEE

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5
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
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SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior

de Melo, Caio Batista ; Ashrafiamiri, Marzieh ; Seo, Minjun ; Kurdahi, Fadi ; Dutt, Nikil

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.17-25

Piscataway: IEEE

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6
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
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The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management

Rajski, Janusz ; Chickermane, Vivek ; Cote, Jean-Francois ; Eggersglus, Stephan ; Mukherjee, Nilanjan ; Tyszer, Jerzy

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.35-49

IEEE

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7
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
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Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions

Rahman, Mridha Md Mashahedur ; Tarek, Shams ; Azar, Kimia Zamiri ; Tehranipoor, Mark M. ; Farahmandi, Farimah

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.26-34

IEEE

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8
Product Health Insights Using Telemetry
Product Health Insights Using Telemetry
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Product Health Insights Using Telemetry

Su, Fei ; Kwasnick, Robert ; Holm, John ; Penner, William ; Gartler, Hermann ; Boelter, Josh ; Zhou, Yufei ; Arbab, Bijan ; Rothberg, Michael

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.56-64

Piscataway: IEEE

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9
Special Issue on Silicon Lifecycle Management
Special Issue on Silicon Lifecycle Management
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Special Issue on Silicon Lifecycle Management

Tahoori, Mehdi ; Zorian, Yervant

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.5-6

IEEE

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10
A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]
A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]
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A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]

Pasini, Massimiliano Lupo

IEEE computational intelligence magazine, 2024-08, Vol.19 (3), p.6-8

IEEE

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