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Approaching atomic-resolution electron microscopy
Approaching atomic-resolution electron microscopy
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Approaching atomic-resolution electron microscopy

Smith, David J. ; Camps, R.A. ; Freeman, L.A. ; O'Keefe, M.A. ; Saxton, W.O. ; Wood, G.J.

Ultramicroscopy, 1985-01, Vol.18 (1), p.63-75 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
Calibration of the operating parameters for an HB5 stem instrument
Calibration of the operating parameters for an HB5 stem instrument
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Calibration of the operating parameters for an HB5 stem instrument

Lin, J.A. ; Cowley, J.M.

Ultramicroscopy, 1986, Vol.19 (1), p.31-42 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Nanolithography using field emission and conventional thermionic electron sources
Nanolithography using field emission and conventional thermionic electron sources
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Nanolithography using field emission and conventional thermionic electron sources

Devenish, R.W. ; Eaglesham, D.J. ; Maher, D.M. ; Humphreys, C.J.

Ultramicroscopy, 1989-04, Vol.28 (1), p.324-329 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Application of computer-aided evaluation for holography and similar techniques
Application of computer-aided evaluation for holography and similar techniques
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Application of computer-aided evaluation for holography and similar techniques

Steinbichler, H. ; Engelsberger, J. ; Sixt, W. ; Sun, J. ; Franz, Th

Optics and lasers in engineering, 1990, Vol.13 (1), p.39-50 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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5
On the application of the optical method of caustics to the investigation of transient elastodynamic crack problems: Limitations of the classical interpretation
On the application of the optical method of caustics to the investigation of transient elastodynamic crack problems: Limitations of the classical interpretation
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On the application of the optical method of caustics to the investigation of transient elastodynamic crack problems: Limitations of the classical interpretation

Rosakis, Ares J. ; Krishnaswamy, Sridhar ; Tippur, Hareesh V.

Optics and lasers in engineering, 1990-01, Vol.13 (3), p.183-210 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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6
Observation of vibrational asymmetry in the high resolution monochromatized XPS of hydrocarbon polymers
Observation of vibrational asymmetry in the high resolution monochromatized XPS of hydrocarbon polymers
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Observation of vibrational asymmetry in the high resolution monochromatized XPS of hydrocarbon polymers

Beamson, G. ; Clark, D.T. ; Kendrick, J. ; Briggs, D.

Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 1991-09, Vol.57 (1), p.79-90 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Optimization of electrothermal vaporization of impurity elements in ceramic powders using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy
Optimization of electrothermal vaporization of impurity elements in ceramic powders using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy
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Optimization of electrothermal vaporization of impurity elements in ceramic powders using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy

Nickel, H. ; Zadgorska, Z. ; Wolff, G.

Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 1993, Vol.48 (1), p.25-38 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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8
Determination of silicon in boron nitride by slurry sampling electrothermal atomic absorption spectrometry
Determination of silicon in boron nitride by slurry sampling electrothermal atomic absorption spectrometry
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Determination of silicon in boron nitride by slurry sampling electrothermal atomic absorption spectrometry

Hauptkorn, Susanne ; Krivan, Viliam

Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 1994-03, Vol.49 (3), p.221-228 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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9
Quantitative transmission X-ray microanalysis of ionic compounds
Quantitative transmission X-ray microanalysis of ionic compounds
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Quantitative transmission X-ray microanalysis of ionic compounds

Van Cappellen, Eric ; Doukhan, Jean Claude

Ultramicroscopy, 1994-04, Vol.53 (4), p.343-349 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
High-resolution electron microscopy of Cu/MgO and Pd/MgO interfaces
High-resolution electron microscopy of Cu/MgO and Pd/MgO interfaces
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High-resolution electron microscopy of Cu/MgO and Pd/MgO interfaces

Chen, F.R. ; Chiou, S.K. ; Chang, L. ; Hong, C.S.

Ultramicroscopy, 1994-06, Vol.54 (2), p.179-191 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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