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Thermally induced van der Waals rupture of thin viscous fluid sheets
Thermally induced van der Waals rupture of thin viscous fluid sheets
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Thermally induced van der Waals rupture of thin viscous fluid sheets

Bowen, Mark ; Tilley, B. S.

Physics of fluids (1994), 2012-03, Vol.24 (3), p.032106-032106-19 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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Thermocapillary-assisted pulling of contact-free liquid films
Thermocapillary-assisted pulling of contact-free liquid films
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Thermocapillary-assisted pulling of contact-free liquid films

Scheid, Benoit ; van Nierop, Ernst A. ; Stone, Howard A.

Physics of fluids (1994), 2012-03, Vol.24 (3), p.032107-032107-21 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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Thermocapillary motion of a slender viscous droplet in a channel
Thermocapillary motion of a slender viscous droplet in a channel
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Thermocapillary motion of a slender viscous droplet in a channel

Katz, E. ; Haj, M. ; Leshansky, A. M. ; Nepomnyashchy, A.

Physics of fluids (1994), 2012-02, Vol.24 (2), p.022102-022102-11 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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4
Thin films flowing down inverted substrates: Three-dimensional flow
Thin films flowing down inverted substrates: Three-dimensional flow
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Thin films flowing down inverted substrates: Three-dimensional flow

Lin, T.-S. ; Kondic, L. ; Filippov, A.

Physics of fluids (1994), 2012-02, Vol.24 (2), p.022105-022105-18 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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5
Shock-wave solutions in two-layer channel flow. II. Linear and nonlinear stability
Shock-wave solutions in two-layer channel flow. II. Linear and nonlinear stability
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Shock-wave solutions in two-layer channel flow. II. Linear and nonlinear stability

Mavromoustaki, A. ; Matar, O. K. ; Craster, R. V.

Physics of fluids (1994), 2011-11, Vol.23 (11), p.112101-112101-20 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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6
Interfacial thin films rupture and self-similarity
Interfacial thin films rupture and self-similarity
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Interfacial thin films rupture and self-similarity

Ward, Margaret H.

Physics of fluids (1994), 2011-06, Vol.23 (6), p.062105-062105-14 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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7
A mechanism of Marangoni instability in evaporating thin liquid films due to soluble surfactant
A mechanism of Marangoni instability in evaporating thin liquid films due to soluble surfactant
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A mechanism of Marangoni instability in evaporating thin liquid films due to soluble surfactant

Yiantsios, Stergios G. ; Higgins, Brian G.

Physics of fluids (1994), 2010-02, Vol.22 (2) [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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8
Instabilities and Taylor dispersion in isothermal binary thin fluid films
Instabilities and Taylor dispersion in isothermal binary thin fluid films
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Instabilities and Taylor dispersion in isothermal binary thin fluid films

Borden, Z. ; Grandjean, H. ; Hosoi, A. E. ; Kondic, L. ; Tilley, B. S.

Physics of fluids (1994), 2008-10, Vol.20 (10), p.102103-102103-11 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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A thin conducting viscous film on an inclined plane in the presence of a uniform normal electric field: Bifurcation scenarios
A thin conducting viscous film on an inclined plane in the presence of a uniform normal electric field: Bifurcation scenarios
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A thin conducting viscous film on an inclined plane in the presence of a uniform normal electric field: Bifurcation scenarios

Uma, B. ; Usha, R.

Physics of fluids (1994), 2008-03, Vol.20 (3) [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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10
Dynamics of a horizontal thin liquid film in the presence of reactive surfactants
Dynamics of a horizontal thin liquid film in the presence of reactive surfactants
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Dynamics of a horizontal thin liquid film in the presence of reactive surfactants

Pereira, A. ; Trevelyan, P. M. J. ; Thiele, U. ; Kalliadasis, S.

Physics of fluids (1994), 2007-11, Vol.19 (11) [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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