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Material Type:
Artigo de Congresso
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The impact of gate length scaling on UTBOX FDSOI devices the digital/analog performance of extension-less structures

Talitha Nicoletti João Antonio Martino 1959-; S Santos; L Almeida; Marc Aoulaiche; A Veloso; Michael J Jurczak; Eddy Simoen; Cor Claeys; International Conference on Ultimate Integration on Silicon (13th 2012 Grenoble, FR)

Proceedings of the conference Grenoble, 2012

Piscataway IEEE 2012

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2
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Artigo de Congresso
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Comparison between low and high read bias in FB-RAM on UTBOX FDSOI devices

Luciano Mendes Almeida João Antonio Martino 1959-; Marc Aoulaiche; Kátia Regina Akemi Sasaki; Talitha Nicoletti; Nadine Collaert; Eddy Simoen; Cor Claeys; Michael J Jurczak; International Conference on Ultimate Integration on Silicon (13th 2012 Grenoble, FR)

Proceedings of the conference Grenoble, 2012

Piscataway IEEE 2012

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Deste Autor:

  1. Almeida, L
  2. Claeys, C
  3. International Conference on Ultimate Integration on Silicon
  4. Jurczak, M
  5. Martino, J

Neste Assunto:

  1. Circuitos Integrados

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