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1
[0 1 0] dislocations in the complex metallic alloy ξ ′-Al–Pd–Mn
Material Type:
Artigo
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[0 1 0] dislocations in the complex metallic alloy ξ ′-Al–Pd–Mn

Feuerbacher, M ; Caillard, D

Acta materialia, 2004-03, Vol.52 (5), p.1297-1304 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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2
(001) Bi2Sr2Ca2Cu3O10 Superconducting Thin Films on Substrates with Large Film−Substrate Lattice Mismatch and Different Film−Substrate Lattice Mismatch Anisotropy
Material Type:
Artigo
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(001) Bi2Sr2Ca2Cu3O10 Superconducting Thin Films on Substrates with Large Film−Substrate Lattice Mismatch and Different Film−Substrate Lattice Mismatch Anisotropy

Endo, K ; Badica, P

Crystal growth & design, 2009-01, Vol.9 (1), p.391-394 [Periódico revisado por pares]

Washington,DC: American Chemical Society

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3
{001} faults in B2 Fe-40 at.% Al-0.7 at.% C-0.5 at.% B
Material Type:
Artigo
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{001} faults in B2 Fe-40 at.% Al-0.7 at.% C-0.5 at.% B

Pang, L. ; Chisholm, M.F. ; Kumar, K.S.

Philosophical magazine letters, 1998-11, Vol.78 (5), p.349-355 [Periódico revisado por pares]

London: Taylor & Francis Group

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4
0.10 μm TiSi2 technology utilizing nitrogen diffusion controlled RTA
Material Type:
Artigo
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0.10 μm TiSi2 technology utilizing nitrogen diffusion controlled RTA

MATSUBARA, Y ; SAKAI, T ; ISHIGAMI, T ; ANDO, K ; HORIUCHI, T

Thin solid films, 1995-12, Vol.270 (1-2), p.537-543 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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5
0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system
Material Type:
Ata de Congresso
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0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system

BAKER, Dan ; ZHENG, Tammy ; TAKEMOTO, Cliff ; SETHI, Satyendra ; GABRIEL, Calvin ; SCOTT, Greg

SPIE proceedings series, 2000, p.294-304

Bellingham WA: SPIE

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6
0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications
Material Type:
Ata de Congresso
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0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications

JIN HEE LEE ; HYUNG SUP YOON ; JAE YEOB SHIM ; JU YEON HONG ; DONG MIN KANG ; HAE CHEON KIM ; KYUNG IK CHO ; KYUNG HO LEE ; BOO WOO KIM

Piscataway NJ: IEEE 2004

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7
0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask
Material Type:
Ata de Congresso
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0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask

Trouiller, Yorick ; Buffet, N ; Mourier, Thierry ; Schiavone, Patrick ; Quere, Yves

SPIE proceedings series, 1998, Vol.3334, p.25-35

Bellingham WA: SPIE

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8
0.3–3 GHz magneto-dielectric properties of nanostructured NiZnCo ferrite from hydrothermal process
Material Type:
Artigo
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0.3–3 GHz magneto-dielectric properties of nanostructured NiZnCo ferrite from hydrothermal process

Shen, Xiang ; Wang, Yanxin ; Yang, Xiang ; Lu, Liqiang ; Huang, Liang

Journal of materials science. Materials in electronics, 2010-06, Vol.21 (6), p.630-634 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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9
0.30k1 CH delineation with novel image reversal materials
Material Type:
Ata de Congresso
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0.30k1 CH delineation with novel image reversal materials

Hatakeyama, J ; Katayama, K ; Yoshihara, T ; Kawai, Y ; Ishihara, T

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2009, Vol.7273, p.72730L-72730L-9

Bellingham, Wash: SPIE

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10
0.31k1 ArF lithography for 70nm DRAM
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Ata de Congresso
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0.31k1 ArF lithography for 70nm DRAM

BOK, Cheolkyu ; LEE, Ki-Lyoung ; KIM, Jin-Woong ; PARK, Jun-Taek ; HWANG, Young-Sun ; EOM, Tae-Seung ; KIM, Seo-Min ; LEE, Geunsu ; JUNG, Jae-Chang ; LIM, Chang-Moon ; MOON, Seung-Chan

SPIE proceedings series, 2005

Bellingham WA: SPIE

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