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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films

Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Journal of Applied Physics Melville, NY v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002

Melville, NY 2002

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1297047 )(Acessar)

2
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films

Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Journal of Applied Physics Melville, NY v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002

Melville, NY 2002

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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
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  1. Algoritmos
  2. Dielétricos
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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