Back-scattered electron imaging for leakage analysis of four retrofilling materials
Simone Bücker Chittoni Tassiana Martini; Márcia Helena Wagner; Ricardo Abreu da Rosa; Bruno Cavalini Cavenago; Marco Antonio Hungaro Duarte; Celso Afonso Klein Jr.; Marcus Vinícius Reis Só
Microscopy Research and Technique New York v. 75, n. 6, p. 796-800, June 2012
New York 2012
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