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Scientific Substantiation of Vastu Shastra
Scientific Substantiation of Vastu Shastra
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Scientific Substantiation of Vastu Shastra

Patel, Piyush D. ; Patel, Piyushkumar J. Mohanty, B. ; Shah, H.N. ; Patel, M.M.

ITM Web of Conferences, 2024, Vol.65, p.2003 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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2
Optimized organic photovoltaics with surface plasmons
Optimized organic photovoltaics with surface plasmons
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Optimized organic photovoltaics with surface plasmons

Omrane, B ; Landrock, C ; Aristizabal, J ; Patel, J. N ; Chuo, Y ; Kaminska, B

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7750, p.77502P-77502P-7

Bellingham, Wash: SPIE

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3
Deriving crop calendar using NDVI time-series
Deriving crop calendar using NDVI time-series
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Deriving crop calendar using NDVI time-series

Patel, J. H. ; Oza, M. P.

International archives of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences., 2014, Vol.XL-8 (8), p.869-873 [Periódico revisado por pares]

Gottingen: Copernicus GmbH

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4
DoS Attacks in Mobile Ad Hoc Networks: A Survey
DoS Attacks in Mobile Ad Hoc Networks: A Survey
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DoS Attacks in Mobile Ad Hoc Networks: A Survey

Jhaveri, R. H. ; Patel, S. J. ; Jinwala, D. C.

2012 Second International Conference on Advanced Computing & Communication Technologies, 2012, p.535-541

IEEE

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5
Examining ACE analysis reliability estimates using fault-injection
Examining ACE analysis reliability estimates using fault-injection
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Examining ACE analysis reliability estimates using fault-injection

Wang, Nicholas J. ; Mahesri, Aqeel ; Patel, Sanjay J.

International Symposium on Computer Architecture: Proceedings of the 34th annual international symposium on Computer architecture : San Diego, California, USA; 09-13 June 2007, 2007, p.460-469

New York, NY, USA: ACM

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6
Comparison of parametric and non-parametric statistical features for Z-Wave fingerprinting
Comparison of parametric and non-parametric statistical features for Z-Wave fingerprinting
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Comparison of parametric and non-parametric statistical features for Z-Wave fingerprinting

Patel, Hiren J. ; Ramsey, Benjamin W.

MILCOM 2015 - 2015 IEEE Military Communications Conference, 2015, p.378-382

IEEE

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7
Looking into the crystal ball: future device learning using hybrid e-beam and optical lithography (Keynote Paper)
Looking into the crystal ball: future device learning using hybrid e-beam and optical lithography (Keynote Paper)
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Looking into the crystal ball: future device learning using hybrid e-beam and optical lithography (Keynote Paper)

Steen, S. E ; McNab, S. J ; Sekaric, L ; Babich, I ; Patel, J ; Bucchignano, J ; Rooks, M ; Fried, D. M ; Topol, A. W ; Brancaccio, J. R ; Yu, R ; Hergenrother, J. M ; Doyle, J. P ; Nunes, R ; Viswanathan, R. G ; Purushothaman, S ; Rothwell, M. B

Proc. SPIE, 2005, Vol.5751, p.26-34

SPIE

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8
High Performance InGaAs Gate-All-Around Nanosheet FET on Si Using Template Assisted Selective Epitaxy
High Performance InGaAs Gate-All-Around Nanosheet FET on Si Using Template Assisted Selective Epitaxy
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High Performance InGaAs Gate-All-Around Nanosheet FET on Si Using Template Assisted Selective Epitaxy

Lee, S. ; Cheng, C. -W. ; Sun, X. ; D'Emic, C. ; Miyazoe, H. ; Frank, M. M. ; Lofaro, M. ; Bruley, J. ; Hashemi, P. ; Ott, J. A. ; Ando, T. ; Spratt, W. ; Cohen, G. M. ; Lavoie, C. ; Bruce, R. ; Patel, J. ; Schmid, H. ; Czornomaz, L. ; Narayanan, V. ; Mo, R.T. ; Leobandung, E.

2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.39.5.1-39.5.4

IEEE

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9
Application of Saluja-Karpovsky compactors to test responses with many unknowns
Application of Saluja-Karpovsky compactors to test responses with many unknowns
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Application of Saluja-Karpovsky compactors to test responses with many unknowns

Patel, J.H. ; Lumetta, S.S. ; Reddy, S.M.

Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003, 2003, p.107-112

IEEE

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10
Overview of sciDB: large scale array storage, processing and analysis
Overview of sciDB: large scale array storage, processing and analysis
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Overview of sciDB: large scale array storage, processing and analysis

Brown, Paul G.

Proceedings of the 2010 ACM SIGMOD International Conference on Management of data, 2010, p.963-968

New York, NY, USA: ACM

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  2. 1989Até1996  (183)
  3. 1997Até2004  (399)
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  5. Após 2013  (279)
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