1
Material Type:
Artigo de Congresso
NSECT sinogram sampling optimization by normalized mutual information
Rodrigo Sartorelo Salemi Viana Miguel Ángel Galarreta Valverde; Choukri Mekkaoui; Hélio Yoriyaz; Marcel Parolin Jackowski; SPIE Medical Imaging: Physics of Medical Imaging (2015 Orlando, FL)
Proceedings of SPIE Bellingham, WA: SPIE, 2015
Bellingham, WA SPIE 2015
Localização:
IME - Inst. Matemática e Estatística
(PROD-2683125 ) (Acessar)
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2
Material Type:
Artigo de Congresso
The jagged effect in raster images reconstruction error
C. A. P. S. Martins João Antonio Zuffo 1939-; Sergio Takeo Kofuji 1958-; Apresentado ao 6. Visual Information Processing (1997 Orlando)
Proceedings of SPIE Bellingham v. 3074, p. 229-239, 1997
Bellingham 1997
Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)
3
Material Type:
Artigo de Congresso
Two dimensional normalized sampled finite sinc reconstructor
C. A. P. S. Martins João Antonio Zuffo 1939-; Sergio Takeo Kofuji 1958-; Apresentado ao 6. Visual Information Processing (1997 Orlando)
Proceedings of SPIE Bellingham v. 3074, p. 240-250, 1997
Bellingham 1997
Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)
4
Material Type:
Artigo de Congresso
Real time image reconstructor ASIC
C. A. P. S. Martins João Antonio Zuffo 1939-; Sergio Takeo Kofuji 1958-; Apresentado ao 6. Visual Information Processing (1997 Orlando)
Proceedings of SPIE Bellingham v. 3074, p. 252-261, 1997
Bellingham 1997
Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)
5
Material Type:
Artigo de Congresso
Development of a silicon microprobe for no detection
Marcelo Bariatto Andrade Fontes Jorge Juan Santiago-Avilés; Rogério Furlan 1959-; Apresentado ao 3. Micromachining and Microfabrication Process Technology (1997 Austin)
Proceedings of SPIE Bellingham v. 3223, p. 64-71, 1997
Bellingham 1997
Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)
6
Material Type:
Artigo de Congresso
The binary hough transform and its implementation
Luciano da Fontoura Costa Mark B Sandler; Symposium on Electronic Imaging Science and Technology (1990 Santa Clara)
Proceedings of SPIE Bellingham : International Society for Optical Engineering - SPIE v. 1251, p. 183-193, 1990
Bellingham Spie 1990
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(PROD003971 ) (Acessar)
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