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The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
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The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management

Rajski, Janusz ; Chickermane, Vivek ; Cote, Jean-Francois ; Eggersglus, Stephan ; Mukherjee, Nilanjan ; Tyszer, Jerzy

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.35-49

IEEE

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2
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution

Hossain, Muhammad Monir ; Azar, Kimia Zamiri ; Rahman, Fahim ; Farahmandi, Farimah ; Tehranipoor, Mark M.

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.7-16

IEEE

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3
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
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Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions

Rahman, Mridha Md Mashahedur ; Tarek, Shams ; Azar, Kimia Zamiri ; Tehranipoor, Mark M. ; Farahmandi, Farimah

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.26-34

IEEE

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Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
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Workload-Aware Periodic Interconnect BIST

Sadeghi-Kohan, Somayeh ; Hellebrand, Sybille ; Wunderlich, Hans-Joachim

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.50-55

Piscataway: IEEE

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5
Product Health Insights Using Telemetry
Product Health Insights Using Telemetry
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Product Health Insights Using Telemetry

Su, Fei ; Kwasnick, Robert ; Holm, John ; Penner, William ; Gartler, Hermann ; Boelter, Josh ; Zhou, Yufei ; Arbab, Bijan ; Rothberg, Michael

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.56-64

Piscataway: IEEE

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6
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
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SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior

de Melo, Caio Batista ; Ashrafiamiri, Marzieh ; Seo, Minjun ; Kurdahi, Fadi ; Dutt, Nikil

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.17-25

Piscataway: IEEE

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7
Interview With Janusz Rajski
Interview With Janusz Rajski
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Interview With Janusz Rajski

Nicolici, Nicola

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.65-69

IEEE

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8
A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]
A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]
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A Perspective on Scalable AI on High-Performance Computing and Leadership Class Supercomputing Facilities [Industrial and Governmental Activities]

Pasini, Massimiliano Lupo

IEEE computational intelligence magazine, 2024-08, Vol.19 (3), p.6-8

IEEE

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9
IC Phone Home
IC Phone Home
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IC Phone Home

Davidson, Scott

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.70-70

IEEE

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10
Silicon Lifecycle Management
Silicon Lifecycle Management
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Silicon Lifecycle Management

Pande, Partha Pratim

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.4-4

IEEE

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  1. Revistas revisadas por pares (19.596)

Data de Publicação 

De até
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  1. Antes de1964  (1.290)
  2. 1964Até1978  (5.553)
  3. 1979Até1993  (42.771)
  4. 1994Até2009  (203.110)
  5. Após 2009  (121.006)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (372.287)
  2. Japonês  (4.100)
  3. Português  (3.030)
  4. Francês  (588)
  5. Alemão  (300)
  6. Italiano  (251)
  7. Espanhol  (119)
  8. Norueguês  (10)
  9. Sueco  (9)
  10. Russo  (4)
  11. Galês  (2)
  12. Catalão  (2)
  13. Indonésio  (1)
  14. Suaíle  (1)
  15. Turco  (1)
  16. Chinês  (1)
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