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1	Material Type: Artigo		1-Grad total dose evaluation of 65 nm CMOS technology for the HL-LHC upgrades Menouni, M. ; Barbero, M. ; Bompard, F. ; Bonacini, S. ; Fougeron, D. ; Gaglione, R. ; Rozanov, A. ; Valerio, P. ; Wang, A. Journal of instrumentation, 2015-05, Vol.10 (5), p.C05009-C05009 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		1+/N+ method: numerical simulation studies and experimental measurements on the SPIRAL1 ECR Charge Breeder Annaluru, A. ; Delahaye, P. ; Dubois, M. ; Jardin, P. ; Kamalou, O. ; Maunoury, L. ; Savalle, A. ; Toivanen, V. ; Traykov, E. ; Ujic, P. Journal of instrumentation, 2019-01, Vol.14 (1), p.C01002-C01002 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		10 [mu] m-thick four-quadrant transmissive silicon photodiodes for beam position monitor application: electrical characterization and gamma irradiation effects Rafi, J M ; Pellegrini, G ; Quirion, D ; Hidalgo, S ; Godignon, P ; Matilla, O ; Juanhuix, J ; Fontsere, A ; Molas, B ; Pothin, D ; Fajardo, P Journal of instrumentation, 2017-01, Vol.12, p.C01004-C01004 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		10 μ m-thick four-quadrant transmissive silicon photodiodes for beam position monitor application: electrical characterization and gamma irradiation effects Rafí, J.M. ; Pellegrini, G. ; Quirion, D. ; Hidalgo, S. ; Godignon, P. ; Matilla, O. ; Juanhuix, J. ; Fontserè, A. ; Molas, B. ; Pothin, D. ; Fajardo, P. Journal of instrumentation, 2017-01, Vol.12 (1), p.C01004-C01004 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		100 ps time resolution with thin silicon pixel detectors and a SiGe HBT amplifier Benoit, M. ; Cardarelli, R. ; Débieux, S. ; Favre, Y. ; Iacobucci, G. ; Nessi, M. ; Paolozzi, L. ; Shu, K. Journal of instrumentation, 2016-03, Vol.11 (3), p.P03011-P03011 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		200 mm sensor development using bonded wafers Alyari, M. ; Bradford, R. ; Campanella, M. ; Camporeale, P. ; Demina, R. ; Everts, J. ; Gecse, Z. ; Halenza, R. ; Heintz, U. ; Holland, S. ; Hong, S. ; Korjenevski, S. ; Lampis, A. ; Lipton, R. ; Patti, R. ; Segal, J. ; Shin, K.W. Journal of instrumentation, 2021-02, Vol.16 (2), p.T02002-T02002 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		3D map of theranostic nanoparticles distribution in mice brain and liver by means of X-ray Phase Contrast Tomography Longo, E. ; Bravin, A. ; Brun, F. ; Bukreeva, I. ; Cedola, A. ; Fratini, M. ; Guevel, X. Le ; Massimi, L. ; Sancey, L. ; Tillement, O. ; Zeitoun, P. ; Rochefoucauld, O. de La Journal of instrumentation, 2018-01, Vol.13 (1), p.C01049-C01049 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		3D modeling of electric fields in the LUX detector Akerib, D.S. ; Alsum, S. ; Araújo, H.M. ; Bai, X. ; Bailey, A.J. ; Balajthy, J. ; Beltrame, P. ; Bernard, E.P. ; Bernstein, A. ; Biesiadzinski, T.P. ; Boulton, E.M. ; Brás, P. ; Byram, D. ; Cahn, S.B. ; Carmona-Benitez, M.C. ; Chan, C. ; Currie, A. ; Cutter, J.E. ; Davison, T.J.R. ; Dobi, A. ; Druszkiewicz, E. ; Edwards, B.N. ; Fallon, S.R. ; Fan, A. ; Fiorucci, S. ; Gaitskell, R.J. ; Genovesi, J. ; Ghag, C. ; Gilchriese, M.G.D. ; Hall, C.R. ; Hanhardt, M. ; Haselschwardt, S.J. ; Hertel, S.A. ; Hogan, D.P. ; Horn, M. ; Huang, D.Q. ; Ignarra, C.M. ; Jacobsen, R.G. ; Ji, W. ; Kamdin, K. ; Kazkaz, K. ; Khaitan, D. ; Knoche, R. ; Larsen, N.A. ; Lenardo, B.G. ; Lesko, K.T. ; Lindote, A. ; Lopes, M.I. ; Manalaysay, A. ; Mannino, R.L. ; Marzioni, M.F. ; McKinsey, D.N. ; Mei, D.-M. ; Mock, J. ; Moongweluwan, M. ; Morad, J.A. ; Murphy, A.St.J. ; Nehrkorn, C. ; Nelson, H.N. ; Neves, F. ; O'Sullivan, K. ; Oliver-Mallory, K.C. ; Palladino, K.J. ; Pease, E.K. ; Rhyne, C. ; Shaw, S. ; Shutt, T.A. ; Silva, C. ; Solmaz, M. ; Solovov, V.N. ; Sorensen, P. ; Sumner, T.J. ; Szydagis, M. ; Taylor, D.J. ; Taylor, W.C. ; Tennyson, B.P. ; Terman, P.A. ; Tiedt, D.R. ; To, W.H. ; Tripathi, M. ; Tvrznikova, L. ; Uvarov, S. ; Velan, V. ; Verbus, J.R. ; Webb, R.C. ; White, J.T. ; Whitis, T.J. ; Witherell, M.S. ; Wolfs, F.L.H. ; Xu, J. ; Yazdani, K. ; Young, S.K. ; Zhang, C. Journal of instrumentation, 2017-11, Vol.12 (11), p.P11022-P11022 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		3D track reconstruction of low-energy electrons in the MIGDAL low pressure optical time projection chamber Tilly, E. ; Handley, M. Journal of instrumentation, 2023-07, Vol.18 (7), p.C07013 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		A 10 −3 drift velocity monitoring chamber Cuna, F. ; Chiarello, G. ; Corvaglia, A. ; Filippis, N. De ; Grancagnolo, F. ; Manta, M. ; Margjeka, I. ; Miccoli, A. ; Panareo, M. ; Tassielli, G.F. Journal of instrumentation, 2020-09, Vol.15 (9), p.C09007-C09007 [Periódico revisado por pares] Bristol: IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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