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1
0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system
0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system

BAKER, Dan ; ZHENG, Tammy ; TAKEMOTO, Cliff ; SETHI, Satyendra ; GABRIEL, Calvin ; SCOTT, Greg

SPIE proceedings series, 2000, p.294-304

Bellingham WA: SPIE

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2
0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications
0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications

JIN HEE LEE ; HYUNG SUP YOON ; JAE YEOB SHIM ; JU YEON HONG ; DONG MIN KANG ; HAE CHEON KIM ; KYUNG IK CHO ; KYUNG HO LEE ; BOO WOO KIM

Piscataway NJ: IEEE 2004

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3
0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask
0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask

Trouiller, Yorick ; Buffet, N ; Mourier, Thierry ; Schiavone, Patrick ; Quere, Yves

SPIE proceedings series, 1998, Vol.3334, p.25-35

Bellingham WA: SPIE

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4
0.1wt% Boron addition Effect on dynamic compressive mechanical properties of Ti-6Al-4V alloy
0.1wt% Boron addition Effect on dynamic compressive mechanical properties of Ti-6Al-4V alloy
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.1wt% Boron addition Effect on dynamic compressive mechanical properties of Ti-6Al-4V alloy

Yu, Yang ; Hui, Songxiao ; Mi, Xujun ; Ye, Wenjun ; Gao, Qi Jawaid, M. ; Kenawy, El-R.

MATEC Web of Conferences, 2016, Vol.67, p.5018 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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5
0.30k1 CH delineation with novel image reversal materials
0.30k1 CH delineation with novel image reversal materials
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.30k1 CH delineation with novel image reversal materials

Hatakeyama, J ; Katayama, K ; Yoshihara, T ; Kawai, Y ; Ishihara, T

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2009, Vol.7273, p.72730L-72730L-9

Bellingham, Wash: SPIE

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6
0.31k1 ArF lithography for 70nm DRAM
0.31k1 ArF lithography for 70nm DRAM
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.31k1 ArF lithography for 70nm DRAM

BOK, Cheolkyu ; LEE, Ki-Lyoung ; KIM, Jin-Woong ; PARK, Jun-Taek ; HWANG, Young-Sun ; EOM, Tae-Seung ; KIM, Seo-Min ; LEE, Geunsu ; JUNG, Jae-Chang ; LIM, Chang-Moon ; MOON, Seung-Chan

SPIE proceedings series, 2005

Bellingham WA: SPIE

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7
0.5-GHz cw mode-locked Nd:glass laser
0.5-GHz cw mode-locked Nd:glass laser
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.5-GHz cw mode-locked Nd:glass laser

Ling, Junda D ; Yan, Li ; Liu, Yuan-Qun ; Lee, Chi H ; Soos, Jolanta I

SPIE 1991

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8
0.8 V ultra low-power CMOS analog multiplexer for remote biological and chemical signal processing
0.8 V ultra low-power CMOS analog multiplexer for remote biological and chemical signal processing
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.8 V ultra low-power CMOS analog multiplexer for remote biological and chemical signal processing

CHUANG ZHANG ; SRIVASTAVA, Ashok ; AJMERA, Pratul K

Proceedings of SPIE: Smart Structures and Materials 2004; Smart Electronics, MEMS, BioMEMS, and Nanotechnology, 2004, Vol.SPIE Volume 5389, p.13-19

Bellingham WA: SPIE

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9
1-3 piezocomposite SmartPanels
1-3 piezocomposite SmartPanels
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1-3 piezocomposite SmartPanels

Fiore, Daniel ; Gentilman, Richard L ; Pham-Nguyen, Hong ; Serwatka, William J ; McGuire, Patrick T ; Near, Craig D ; Bowen, Leslie J

SPIE proceedings series, 1997, Vol.3044, p.391-396

Bellingham WA: SPIE

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10
1.06-μm laser irradiation on high-reflection coatings inside a scanning electron microscope
1.06-μm laser irradiation on high-reflection coatings inside a scanning electron microscope
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.06-μm laser irradiation on high-reflection coatings inside a scanning electron microscope

Poulingue, Marc ; Dijon, Jean ; Garrec, Pierre ; Lyan, Philippe

SPIE 1999

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  1. Revistas revisadas por pares (45.287)

Data de Publicação 

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  1. Antes de1989  (460)
  2. 1989Até1996  (11.080)
  3. 1997Até2004  (24.147)
  4. 2005Até2013  (32.630)
  5. Após 2013  (47.037)
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Idioma 

  1. Inglês  (113.682)
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  5. Francês  (23)
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