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Thermal Problems of the CW Injection Laser
Thermal Problems of the CW Injection Laser
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Thermal Problems of the CW Injection Laser

Keyes, R. W.

IBM journal of research and development, 1971-09, Vol.15 (5), p.401-404 [Periódico revisado por pares]

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A Fault-Tolerant Information Processing Concept for Space Vehicles
A Fault-Tolerant Information Processing Concept for Space Vehicles
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A Fault-Tolerant Information Processing Concept for Space Vehicles

Hopkins, A.L.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1394-1403 [Periódico revisado por pares]

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Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code
Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code
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Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code

Tohma, Y. ; Ohyama, Y. ; Sakai, R.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1270-1275 [Periódico revisado por pares]

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Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers
Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers
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Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers

Bouricius, W.G. ; Carter, W.C. ; Jessep, D.C. ; Schneider, P.R. ; Wadia, A.B.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1306-1311 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach
Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach
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Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach

Ramamoorthy, C.V. ; Mayeda, W.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1294-1299 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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A Random and an Algorithmic Technique for Fault Detection Test Generation for Sequential Circuits
A Random and an Algorithmic Technique for Fault Detection Test Generation for Sequential Circuits
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A Random and an Algorithmic Technique for Fault Detection Test Generation for Sequential Circuits

Breuer, M.A.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1364-1370 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Logic Design for Dynamic and Interactive Recovery
Logic Design for Dynamic and Interactive Recovery
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Logic Design for Dynamic and Interactive Recovery

Carter, W.C. ; Jessep, D.C. ; Wadia, A.B. ; Schneider, P.R. ; Bouricius, W.G.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1300-1305 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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On Reliability Modeling and Analysis of Ultrareliable Fault-Tolerant Digital Systems
On Reliability Modeling and Analysis of Ultrareliable Fault-Tolerant Digital Systems
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On Reliability Modeling and Analysis of Ultrareliable Fault-Tolerant Digital Systems

Mathur, F.P.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1376-1382 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Locatability of Faults in Combinational Networks
Locatability of Faults in Combinational Networks
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Locatability of Faults in Combinational Networks

Gray, F.G. ; Meyer, J.F.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1407-1412 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks
Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks
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Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks

Russell, J.D. ; Kime, C.R.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1276-1285 [Periódico revisado por pares]

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