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Pemi Aguda
Pemi Aguda
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Pemi Aguda

van den Berg, Laura

Poets & writers, 2024-07, Vol.52 (4), p.40-41

New York: Poets & Writers, Incorporated

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2
Impact of Orientation on the Bias of SRAM-Based PUFs
Impact of Orientation on the Bias of SRAM-Based PUFs
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Impact of Orientation on the Bias of SRAM-Based PUFs

Abideen, Zain Ul ; Wang, Rui ; Perez, Tiago Diadami ; Schrijen, Geert-Jan ; Pagliarini, Samuel

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.14-20

Piscataway: IEEE

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3
A BIST Approach to Approximate Co-Testing of Embedded Data Converters
A BIST Approach to Approximate Co-Testing of Embedded Data Converters
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A BIST Approach to Approximate Co-Testing of Embedded Data Converters

Bhatheja, Kushagra ; Chaganti, Shravan ; Leisinger, Johnathan ; Darko, Emmanuel Nti ; Bruce, Isaac ; Chen, Degang

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.21-28

Piscataway: IEEE

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4
Efficient Aspect Verification and Debugging of High-Performance Microprocessor Designs
Efficient Aspect Verification and Debugging of High-Performance Microprocessor Designs
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Efficient Aspect Verification and Debugging of High-Performance Microprocessor Designs

Joseph, Arun ; Jacob, Pretty Mariam ; Klein, Matthias ; Roesner, Wolfgang

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.36-46

Piscataway: IEEE

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5
Robust and Secure Systems
Robust and Secure Systems
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Robust and Secure Systems

Pande, Partha Pratim

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.4-4

Piscataway: IEEE

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6
Testing for Multiple Faults in Deep Neural Networks
Testing for Multiple Faults in Deep Neural Networks
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Testing for Multiple Faults in Deep Neural Networks

Moussa, Dina A. ; Hefenbrock, Michael ; Tahoori, Mehdi

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.47-53

Piscataway: IEEE

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7
Voltage-Resistance-Adaptive MPPT Circuit for Energy Harvesting
Voltage-Resistance-Adaptive MPPT Circuit for Energy Harvesting
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Voltage-Resistance-Adaptive MPPT Circuit for Energy Harvesting

Zhang, Zhang ; Wang, Annan ; Ren, Hongtao ; Xie, Guangjun ; Cheng, Xin

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.54-62

Piscataway: IEEE

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8
Side Channel and Fault Analyses on Memristor-Based Logic In-Memory
Side Channel and Fault Analyses on Memristor-Based Logic In-Memory
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Side Channel and Fault Analyses on Memristor-Based Logic In-Memory

Inglese, Pietro ; Vatajelu, Elena-Ioana ; Di Natale, Giorgio

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.29-35

Piscataway: IEEE

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9
Recap of the 29th Edition of the Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC 2024)
Recap of the 29th Edition of the Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC 2024)
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Recap of the 29th Edition of the Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC 2024)

Kim, Taewhan

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.63-64

IEEE

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10
Niklaus Wirth (1934-2024)-An Appreciation
Niklaus Wirth (1934-2024)-An Appreciation
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Niklaus Wirth (1934-2024)-An Appreciation

Davidson, Scott

IEEE design and test, 2024-06, Vol.41 (3), p.65-65

IEEE

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  1. Antes de1960  (394)
  2. 1960Até1975  (1.956)
  3. 1976Até1991  (4.319)
  4. 1992Até2008  (41.406)
  5. Após 2008  (41.191)
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