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1
Classification of areas using pixel-by-pixel and sample classifiers
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Classification of areas using pixel-by-pixel and sample classifiers

Dejesusparada, N. ; Kumar, R. ; Niero, M. ; Manso, A. P. ; Lucht, L. A. M. ; Barros, M. S. S.

Legacy CDMS 1979

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2
Cell-cycle effects
Cell-cycle effects
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Cell-cycle effects

REED, S. I ; DE BARROS LOPES, M. A ; RICHARDSON, S ; WITTENBURG, C ; BEACH, D ; BREEDEN, L ; NASMYTH, K ; NEWPORT, J ; SPANN, T ; KANKI, J ; FORBES, D ; LASKEY, R. A ; FERGUSON, J ; KEARSEY, S. E ; MECHALI, M ; DINWALL, C ; MILLS, A. D ; DILWORTH, S. M ; HADWIGER, J. A ; HO, J.-Y ; HORWITZ, R ; JONES, C. A ; LORINCZ, A. T ; MENDENHALL, M. D ; PETERSON, T. A

Cold Spring Harbor symposia on quantitative biology, 1985, Vol.50, p.627-670 [Periódico revisado por pares]

Cold Spring Harbor, NY: Cold Spring Harbor Laboratory Press

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3
ANALYSIS OF THE INCREMENTAL TUNER
ANALYSIS OF THE INCREMENTAL TUNER
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

ANALYSIS OF THE INCREMENTAL TUNER

Barros, P.R.

Adaptive Systems in Control and Signal Processing 1992, 1993, p.157-162

Elsevier Ltd

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4
Dynamic Response Of External Cavity Semiconductor Laser - A Multigigabit Per Second Transmission Simulation
Dynamic Response Of External Cavity Semiconductor Laser - A Multigigabit Per Second Transmission Simulation
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Dynamic Response Of External Cavity Semiconductor Laser - A Multigigabit Per Second Transmission Simulation

de Barros, L.E.M. ; Moschin, E. ; Souza, R.F.

SBMO International Microwave Conference/Brazil, 1993, Vol.1, p.135-140

IEEE

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5
Internal photovoltaic effect in microwave devices
Internal photovoltaic effect in microwave devices
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Internal photovoltaic effect in microwave devices

Romero, M.A. ; de Burros, L.E.M. ; Herczfeld, P.R.

1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.94CH3389-4), 1994, p.1505-1508 vol.3

IEEE

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6
Thermal three-dimensional lithography in thermoset resins using CO2 laser
Thermal three-dimensional lithography in thermoset resins using CO2 laser
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Thermal three-dimensional lithography in thermoset resins using CO2 laser

Scarparo, Marco A. F ; Barros, Mucio L ; Kiel, Alvin E ; Gerck, Edgardo

SPIE 1994

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7
Real-time architecture for large displacements estimation
Real-time architecture for large displacements estimation
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Real-time architecture for large displacements estimation

Alves de Barros, Lirida ; Demassieux, Nicolas

SPIE 1994

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8
Analytical model with empirical verification for heterojunction bipolar transistors under illumination
Analytical model with empirical verification for heterojunction bipolar transistors under illumination
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Analytical model with empirical verification for heterojunction bipolar transistors under illumination

De Barros, L.E.M. ; Paolella, A. ; Herczfeld, P.R. ; Enquist, P.

Proceedings of 1995 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, 1995, p.49-52 vol.1

IEEE

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9
The multicentre trial philosophy in stress echocardiography : lessons learned from the EPIC study
The multicentre trial philosophy in stress echocardiography : lessons learned from the EPIC study
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The multicentre trial philosophy in stress echocardiography : lessons learned from the EPIC study

PICANO, E ; SICARI, R ; BIGI, R ; SALUSTRI, A ; HEYMAN, J ; MATTIOLI, R ; CHIARANDA, G ; GALATI, A ; ANDRADE, M. J ; BARBOSA, M ; BARROS, R ; DE ALCANTARA, M. L ; LANDI, P ; GANDOLFO, N ; CONTIJO, E ; CORTIGIANI, L ; MAZZONI, V ; MINARDI, G ; MORALES, M. A ; PIACENTI, M ; MORRA, P ; CASO, P ; PREVITALI, M ; RACITI, M ; QUARTACOLOSSO, M ; SCLAVO, M. G ; SEVESO, G ; PINGITORE, A ; VASSALLE, C ; MATHIAS, W. JR ; LOWENSTEIN, J ; PETIX, N ; GIGLI, G

European heart journal, 1995, Vol.16 (OCT), p.2-4 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Oxford University Press

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10
Optimizing HW/SW codesign towards reliability for critical-application systems
Optimizing HW/SW codesign towards reliability for critical-application systems
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Optimizing HW/SW codesign towards reliability for critical-application systems

Vargas, F. ; Bezerra, E. ; Wulff, L. ; Barros, D.

Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98) (Cat. No.98TB100259), 1998, p.52-57

IEEE

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  3. 2003Até2008  (83)
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