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Oxygen Reduction Reaction Measurements on Platinum Electrocatalysts Utilizing Rotating Disk Electrode Technique: I. Impact of Impurities, Measurement Protocols and Applied Corrections
Oxygen Reduction Reaction Measurements on Platinum Electrocatalysts Utilizing Rotating Disk Electrode Technique: I. Impact of Impurities, Measurement Protocols and Applied Corrections
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Oxygen Reduction Reaction Measurements on Platinum Electrocatalysts Utilizing Rotating Disk Electrode Technique: I. Impact of Impurities, Measurement Protocols and Applied Corrections

Shinozaki, Kazuma ; Zack, Jason W. ; Richards, Ryan M. ; Pivovar, Bryan S. ; Kocha, Shyam S.

Journal of the Electrochemical Society, 2015-01, Vol.162 (10), p.F1144-F1158 [Periódico revisado por pares]

United States: The Electrochemical Society

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2
On the theory and measurement of technological change
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On the theory and measurement of technological change

Murray Brown 1929-

Cambridge Cambridge U.P. 1966

Localização: FEA - Fac. Econ. Adm. Contab. e Atuária  ACERVO DELFIM NETTO  (A34.7.8 ) e outros locais(Acessar)

3
On the theory and measurement of technological change
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

On the theory and measurement of technological change

Murray Brown 1929-

Cambridge Cambridge University Press 1968

Localização: FEA - Fac. Econ. Adm. Contab. e Atuária  ACERVO DELFIM NETTO  (A34.7.7 )(Acessar)

4
Photonics-Based Broadband Microwave Measurement
Photonics-Based Broadband Microwave Measurement
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Photonics-Based Broadband Microwave Measurement

Pan, Shilong ; Yao, Jianping

Journal of lightwave technology, 2017-08, Vol.35 (16), p.3498-3513 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Measurement technologies for precision positioning
Measurement technologies for precision positioning
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Measurement technologies for precision positioning

Gao, W. ; Kim, S.W. ; Bosse, H. ; Haitjema, H. ; Chen, Y.L. ; Lu, X.D. ; Knapp, W. ; Weckenmann, A. ; Estler, W.T. ; Kunzmann, H.

CIRP annals, 2015, Vol.64 (2), p.773-796 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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6
Accurate thickness measurement of graphene
Accurate thickness measurement of graphene
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Accurate thickness measurement of graphene

Shearer, Cameron J ; Slattery, Ashley D ; Stapleton, Andrew J ; Shapter, Joseph G ; Gibson, Christopher T

Nanotechnology, 2016-03, Vol.27 (12), p.125704-125704 [Periódico revisado por pares]

England: IOP Publishing

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7
Temperature Measurement of Power Semiconductor Devices by Thermo-Sensitive Electrical Parameters-A Review
Temperature Measurement of Power Semiconductor Devices by Thermo-Sensitive Electrical Parameters-A Review
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Temperature Measurement of Power Semiconductor Devices by Thermo-Sensitive Electrical Parameters-A Review

Avenas, Y. ; Dupont, L. ; Khatir, Z.

IEEE transactions on power electronics, 2012-06, Vol.27 (6), p.3081-3092 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Cuffless Blood Pressure Measurement
Cuffless Blood Pressure Measurement
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Cuffless Blood Pressure Measurement

Mukkamala, Ramakrishna ; Stergiou, George S ; Avolio, Alberto P

Annual review of biomedical engineering, 2022-06, Vol.24 (1), p.203-230 [Periódico revisado por pares]

United States: Annual Reviews

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9
PIV-based pressure measurement
PIV-based pressure measurement
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PIV-based pressure measurement

van Oudheusden, B W

Measurement science & technology, 2013-03, Vol.24 (3), p.32001-1-32 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

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10
Measurement-induced criticality in ( 2 + 1 ) -dimensional hybrid quantum circuits
Measurement-induced criticality in ( 2 + 1 ) -dimensional hybrid quantum circuits
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Measurement-induced criticality in ( 2 + 1 ) -dimensional hybrid quantum circuits

Turkeshi, Xhek ; Fazio, Rosario ; Dalmonte, Marcello

Physical review. B, 2020-07, Vol.102 (1), p.1, Article 014315 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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Deste Autor:

  1. Püschel, V
  2. Galvão, E
  3. Brown, M
  4. Koivukangas, S
  5. Pan American Nursing Research Colloquium

Neste Assunto:

  1. Technology
  2. Technology
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  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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