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1
Uma contribuição ao estudo teórico e experimental de um TEC-MOS de dupla porta
Uma contribuição ao estudo teórico e experimental de um TEC-MOS de dupla porta
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Uma contribuição ao estudo teórico e experimental de um TEC-MOS de dupla porta

Marius Strum 1948- Edgar Charry Rodriguez

1977

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2
Estudo sobre danos induzidos por plasma
Estudo sobre danos induzidos por plasma
Material Type:
Tese (Outras) 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo sobre danos induzidos por plasma

Patrick Bernard Verdonck 1958-

1998

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (FT-1155 ) e outros locais(Acessar)

3
Obtenção de óxidos de porta MOS ultrafinos influência da limpeza química e estudo da ruptura dielétrica
Obtenção de óxidos de porta MOS ultrafinos influência da limpeza química e estudo da ruptura dielétrica
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Obtenção de óxidos de porta MOS ultrafinos influência da limpeza química e estudo da ruptura dielétrica

Willian Aurélio Nogueira Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

2003

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (FT-1899 ) e outros locais(Acessar)

4
Estudo experimental da obtenção de oxinitretos de silício ultrafinos para porta MOS
Estudo experimental da obtenção de oxinitretos de silício ultrafinos para porta MOS
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo experimental da obtenção de oxinitretos de silício ultrafinos para porta MOS

Leandro Zeidan Toquetti Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-

2005

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (FT-2162 ) e outros locais(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Santos Filho, S
  2. Verdonck, P
  3. Toquetti, L
  4. Charry Rodriguez, E
  5. Strum, M

Neste Assunto:

  1. Circuitos Integrados Mos
  2. Rugosidade Superficial
  3. Silício
  4. Engenharia Elétrica
  5. Semicondutores

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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