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3 Resultados para Busca Geral

Refinado por: Nome da Publicação: Semiconductor Science And Technology

Result Number	Material Type	Record Details and Options
1	Material Type: Artigo	Small-signal parameters extraction and noise analysis of CNTFETs Ramos-Silva, Javier N ; Pacheco-Sánchez, Aníbal ; Enciso-Aguilar, Mauro A ; Jiménez, David ; Ramírez-García, Eloy Semiconductor science and technology, 2020-04, Vol.35 (4), p.45024 [Periódico revisado por pares] IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo	Neural network based analysis of random telegraph noise in resistive random access memories González-Cordero, G ; González, M B ; Morell, A ; Jiménez-Molinos, F ; Campabadal, F ; Roldán, J B Semiconductor science and technology, 2020-02, Vol.35 (2), p.25021 [Periódico revisado por pares] IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo	High-k gadolinium scandate on Si obtained by high pressure sputtering from metal targets and in-situ plasma oxidation Pampillón, M A ; San Andrés, E ; Feijoo, P C ; Fierro, J L G Semiconductor science and technology, 2017-03, Vol.32 (3), p.35016 [Periódico revisado por pares] IOP Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por