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Resultados de 1 a 10 de 49  para Produção Intelectual da USP

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1
Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x
Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x

Carlos Alberto Martins de Carvalho Pimentel, Cecilia de Alvarenga Freire

1985

Localização: IF - Instituto de Física    (548.83 C331d M Ex.2 )(Acessar)

2
Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X
Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização de filmes finos de siliceto de titanio por técnicas de difração de Raio X

Nilton Itiro Morimoto 1962- Jacobus Willibrordus Swart 1950-

1987

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (FD-489 ) e outros locais(Acessar)

3
Refinamento de estruturas cristalinas com dados obtidos por difração de raios-x por policristais
Refinamento de estruturas cristalinas com dados obtidos por difração de raios-x por policristais
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Refinamento de estruturas cristalinas com dados obtidos por difração de raios-x por policristais

Darcy P. Svisero 1940- Carlos Alberto de Simone; Yvonne Primerano Mascarenhas; Sociedade Brasileira para o Progresso da Ciência. Reunião (34. 1982 Campinas)

Resumos Campinas p. 258, 1982

Campinas 1982

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4
Estudos dos oxidos de uranio em altas temperaturas por difracao de raios-x
Estudos dos oxidos de uranio em altas temperaturas por difracao de raios-x
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudos dos oxidos de uranio em altas temperaturas por difracao de raios-x

Maria Ines Costa Alcídio Abrão

1978

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (T 543.085 C837e ) e outros locais(Acessar)

5
Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titanio por técnicas de difração de raios-x
Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titanio por técnicas de difração de raios-x
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titanio por técnicas de difração de raios-x

Nilton Itiro Morimoto 1962- Jacobus Willibrordus Swart 1950-; Humberto Gracher Riella; Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica (3. 1988 São Paulo)

Anais São Paulo : Sbmicro/Epusp, 1988

São Paulo Sbmicro/Epusp 1988

Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)

6
Difratômetro de raios-x duplo-eixo para caracterização de cristais
Difratômetro de raios-x duplo-eixo para caracterização de cristais
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Difratômetro de raios-x duplo-eixo para caracterização de cristais

Antônio Ricardo Droher Rodrigues Irineu Mazzaro; Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada (9. 1986 Pocos de Caldas)

Programa e Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Fisica, 1986

São Paulo Sociedade Brasileira de Fisica 1986

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD000041 ) e outros locais(Acessar)

7
Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction
Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction

Antônio Martins Figueiredo Neto Lia Queiroz do Amaral

São Paulo IFUSP 1980

Acesso online

8
Study of orientational effects in a type II lyomesophase
Study of orientational effects in a type II lyomesophase
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of orientational effects in a type II lyomesophase

Lia Queiroz do Amaral

São Paulo IFUSP 1980

Acesso online

9
Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x
Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x

Nilton Itiro Morimoto 1962- Jacobus Willibrordus Swart 1950-; Humberto Gracher Riella; Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica (2. 1987 São Paulo)

Anais São Paulo : Sbmicro/Epusp, 1987

São Paulo Sbmicro/Epusp 1987

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10
Construcao e aplicacao de uma camara de difracao de raios-x , a quente, para o estudo da reacao entre 'NB'-'TI' e 'N IND.2'
Construcao e aplicacao de uma camara de difracao de raios-x , a quente, para o estudo da reacao entre 'NB'-'TI' e 'N IND.2'
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Construcao e aplicacao de uma camara de difracao de raios-x , a quente, para o estudo da reacao entre 'NB'-'TI' e 'N IND.2'

S R Teixeira J. A Rodrigues; Yvonne Primerano Mascarenhas; Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada (10. 1987 Caxambu)

Programa e Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Fisica, 1987

São Paulo Sociedade Brasileira de Fisica 1987

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD000436 ) e outros locais(Acessar)

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