skip to main content
Idioma:
Mostrar Somente
Refinado por: assunto: Physics remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
ATK-ForceField: a new generation molecular dynamics software package
ATK-ForceField: a new generation molecular dynamics software package
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

ATK-ForceField: a new generation molecular dynamics software package

Schneider, Julian ; Hamaekers, Jan ; Chill, Samuel T ; Smidstrup, Søren ; Bulin, Johannes ; Thesen, Ralph ; Blom, Anders ; Stokbro, Kurt

Modelling and simulation in materials science and engineering, 2017-10, Vol.25 (8), p.85007 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Effect of iron doping on protein molecular conductance
Effect of iron doping on protein molecular conductance
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effect of iron doping on protein molecular conductance

Lebedev, Nikolai ; Griva, Igor ; Blom, Anders ; Tender, Leonard M

Physical chemistry chemical physics : PCCP, 2018, Vol.20 (20), p.14072-14081 [Periódico revisado por pares]

England: Royal Society of Chemistry

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
Properties of homo- and hetero-Schottky junctions from first principle calculations
Properties of homo- and hetero-Schottky junctions from first principle calculations
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Properties of homo- and hetero-Schottky junctions from first principle calculations

Greer, James C ; Blom, Anders ; Ansari, Lida

Journal of physics. Condensed matter, 2018-10, Vol.30 (41), p.414003-414003 [Periódico revisado por pares]

England: IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Atomic-scale model for the contact resistance of the nickel-graphene interface
Atomic-scale model for the contact resistance of the nickel-graphene interface
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Atomic-scale model for the contact resistance of the nickel-graphene interface

Stokbro, Kurt ; Engelund, Mads ; Blom, Anders

Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2012-04, Vol.85 (16), Article 165442

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Exact Solution of the Zeeman Effect in Single-Electron Systems
Exact Solution of the Zeeman Effect in Single-Electron Systems
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Exact Solution of the Zeeman Effect in Single-Electron Systems

Blom, A

Physica scripta, 2005-01, Vol.2005, p.90-98 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
QuantumATK: an integrated platform of electronic and atomic-scale modelling tools
QuantumATK: an integrated platform of electronic and atomic-scale modelling tools
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

QuantumATK: an integrated platform of electronic and atomic-scale modelling tools

Smidstrup, Søren ; Markussen, Troels ; Vancraeyveld, Pieter ; Wellendorff, Jess ; Schneider, Julian ; Gunst, Tue ; Verstichel, Brecht ; Stradi, Daniele ; Khomyakov, Petr A ; Vej-Hansen, Ulrik G ; Lee, Maeng-Eun ; Chill, Samuel T ; Rasmussen, Filip ; Penazzi, Gabriele ; Corsetti, Fabiano ; Ojanperä, Ari ; Jensen, Kristian ; Palsgaard, Mattias L N ; Martinez, Umberto ; Blom, Anders ; Brandbyge, Mads ; Stokbro, Kurt

Journal of physics. Condensed matter, 2020-01, Vol.32 (1), p.015901-015901 [Periódico revisado por pares]

England: IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
General atomistic approach for modeling metal-semiconductor interfaces using density functional theory and nonequilibrium Green's function
General atomistic approach for modeling metal-semiconductor interfaces using density functional theory and nonequilibrium Green's function
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

General atomistic approach for modeling metal-semiconductor interfaces using density functional theory and nonequilibrium Green's function

Stradi, Daniele ; Martinez, Umberto ; Blom, Anders ; Brandbyge, Mads ; Stokbro, Kurt

Physical review. B, 2016-04, Vol.93 (15), Article 155302 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
Atomistic modeling of semiconductor interfaces
Atomistic modeling of semiconductor interfaces
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Atomistic modeling of semiconductor interfaces

Blom, Anders ; Stokbro, Kurt

Journal of computational electronics, 2013-12, Vol.12 (4), p.623-637 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Magnetoresistance and negative differential resistance in Ni/graphene/Ni vertical heterostructures driven by finite bias voltage: A first-principles study
Magnetoresistance and negative differential resistance in Ni/graphene/Ni vertical heterostructures driven by finite bias voltage: A first-principles study
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Magnetoresistance and negative differential resistance in Ni/graphene/Ni vertical heterostructures driven by finite bias voltage: A first-principles study

Saha, Kamal K. ; Blom, Anders ; Thygesen, Kristian S. ; Nikolić, Branislav K.

Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2012-05, Vol.85 (18), Article 184426 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Ab initio LCAO hybrid density-functional method for accurate, large-scale electronic structure simulations of semiconductor materials, interfaces and gate stacks
Ab initio LCAO hybrid density-functional method for accurate, large-scale electronic structure simulations of semiconductor materials, interfaces and gate stacks
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Ab initio LCAO hybrid density-functional method for accurate, large-scale electronic structure simulations of semiconductor materials, interfaces and gate stacks

Khomyakov, Petr A. ; Wellendorff, Jess ; Palsgaard, Mattias ; Gunst, Tue ; Miyagi, Haruhide ; Verstichel, Brecht ; Corsetti, Fabiano ; Arcisauskaite, Vaida ; Martinez, Umberto ; Blom, Anders ; Smidstrup, Soren

2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.124-127

IEEE

Sem texto completo

Citações Citado por

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Mostrar Somente

  1. Recursos Online (157)
  2. Revistas revisadas por pares (150)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (155)
  2. Anais de Congresso  (6)
  3. Newsletter Articles  (1)
  4. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1994  (8)
  2. 1994Até2004  (12)
  3. 2005Até2010  (29)
  4. 2011Até2017  (66)
  5. Após 2017  (48)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Japonês  (26)
  2. Catalão  (1)
  3. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.