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Refinado por: Nome da Publicação: Thin Solid Films remover
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Strain dependence of dissociative adsorption of H 2 O on epitaxially strained, out-of-plane polarized, BaTiO 3 (001) thin films
Strain dependence of dissociative adsorption of H 2 O on epitaxially strained, out-of-plane polarized, BaTiO 3 (001) thin films
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Strain dependence of dissociative adsorption of H 2 O on epitaxially strained, out-of-plane polarized, BaTiO 3 (001) thin films

Wang, J.L. ; She, S.J. ; Gaillard, F. ; Niu, G. ; Vilquin, B. ; Barrett, N.

Thin solid films, 2021-01, Vol.717, p.138428, Article 138428 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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2
Unexpected band-bending of donor-doped PbZr$_{0.52}$ Ti$_{0.48}$ O$_3$ films
Unexpected band-bending of donor-doped PbZr$_{0.52}$ Ti$_{0.48}$ O$_3$ films
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Unexpected band-bending of donor-doped PbZr$_{0.52}$ Ti$_{0.48}$ O$_3$ films

Barrett, Nicholas ; Gueye, Ibrahima ; Rhun, Gwenael Le ; Renault, Olivier ; Defay, Emmanuel

Thin solid films, 2020-12, Vol.715 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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3
Moisture diffusion in plasma-enhanced chemical vapor deposition dielectrics characterized with three techniques under clean room conditions
Moisture diffusion in plasma-enhanced chemical vapor deposition dielectrics characterized with three techniques under clean room conditions
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Moisture diffusion in plasma-enhanced chemical vapor deposition dielectrics characterized with three techniques under clean room conditions

Cartailler, Vivien ; Imbert, Grégory ; Rochat, Névine ; Chaton, Catherine ; Vo-Thanh, Du ; Benoit, Daniel ; Duchamp, Geneviève ; Frémont, Hélène

Thin solid films, 2020-03, Vol.698, p.137874 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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4
Low temperature growth and physical properties of InAs thin films grown on Si, GaAs and In 0.53 Ga 0.47 As template
Low temperature growth and physical properties of InAs thin films grown on Si, GaAs and In 0.53 Ga 0.47 As template
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Low temperature growth and physical properties of InAs thin films grown on Si, GaAs and In 0.53 Ga 0.47 As template

Alcotte, Reynald ; Martin, Mickaël ; Moeyaert, Jeremy ; Gergaud, Patrice ; David, Sylvain ; Cerba, Tiphaine ; Bassani, Franck ; Ducroquet, Frédérique ; Bogumilowicz, Yann ; Baron, Thierry

Thin solid films, 2018-01, Vol.645, p.119-123 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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Morphology of sol-gel porous In-Ga-Zn-O thin films as a function of annealing temperatures
Morphology of sol-gel porous In-Ga-Zn-O thin films as a function of annealing temperatures
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Morphology of sol-gel porous In-Ga-Zn-O thin films as a function of annealing temperatures

Revenant, Christine ; Benwadih, Mohammed

Thin solid films, 2016-10, Vol.616, p.643-648 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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6
Ultrathin junctions based on the LaSrMnO$_3$/Nb:SrTiO$_3$ functional oxide interface
Ultrathin junctions based on the LaSrMnO$_3$/Nb:SrTiO$_3$ functional oxide interface
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Ultrathin junctions based on the LaSrMnO$_3$/Nb:SrTiO$_3$ functional oxide interface

Kurij, G. ; Calvet, L.E. ; Guerrero, R. ; Maroutian, T. ; Agnus, G. ; Solignac, A. ; Lecoeur, Ph

Thin solid films, 2016, Vol.617, p.82-85 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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7
Manipulating the ferroelectric polarization state of BaTiO 3 thin films
Manipulating the ferroelectric polarization state of BaTiO 3 thin films
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Manipulating the ferroelectric polarization state of BaTiO 3 thin films

Datta, Sukanya ; Rioult, Maxime ; Stanescu, Dana ; Magnan, Hélène ; Barbier, Antoine

Thin solid films, 2016, Vol.607 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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8
Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films: structural, electrical and dielectric properties correlated with uncooled IR pyroelectric detection performances
Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films: structural, electrical and dielectric properties correlated with uncooled IR pyroelectric detection performances
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Amorphous Y-Ba-Cu-O oxide thin films: structural, electrical and dielectric properties correlated with uncooled IR pyroelectric detection performances

Dégardin, Annick ; Galiano, Xavier ; Gensbittel, Aurélie ; Dubrunfaut, Olivier ; Jagtap, Vishal ; Kreisler, Alain

Thin solid films, 2014-02, Vol.553 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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9
A structure zone diagram including plasma-based deposition and ion etching
A structure zone diagram including plasma-based deposition and ion etching
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A structure zone diagram including plasma-based deposition and ion etching

Anders, André

Thin solid films, 2010-05, Vol.518 (15), p.4087-4090 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices
Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices
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Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices

Granqvist, Claes G.

Thin solid films, 2014-08, Vol.564, p.1-38 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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