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Correlated discrete transfer of single electrons in ultrasmall tunnel junctions
Correlated discrete transfer of single electrons in ultrasmall tunnel junctions
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Correlated discrete transfer of single electrons in ultrasmall tunnel junctions

Likharev, K. K.

IBM journal of research and development, 1988-01, Vol.32 (1), p.144-158 [Periódico revisado por pares]

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2
Symmetry of electrical conduction
Symmetry of electrical conduction
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Symmetry of electrical conduction

BUTTIKER, M

IBM journal of research and development, 1988-05, Vol.32 (3), p.317-334 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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3
Efficient randomized pattern-matching algorithms
Efficient randomized pattern-matching algorithms
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Efficient randomized pattern-matching algorithms

KARP, R. M ; RABIN, M. O

IBM journal of research and development, 1987-03, Vol.31 (2), p.249-260 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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4
An overview of the basic principles of the Q-Coder adaptive binary arithmetic coder
An overview of the basic principles of the Q-Coder adaptive binary arithmetic coder
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An overview of the basic principles of the Q-Coder adaptive binary arithmetic coder

Pennebaker, W. B. ; Mitchell, J. L. ; Langdon, G. G. ; Arps, R. B.

IBM journal of research and development, 1988-11, Vol.32 (6), p.717-726 [Periódico revisado por pares]

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5
Spatial variation of currents and fields due to localized scatterers in metallic conduction
Spatial variation of currents and fields due to localized scatterers in metallic conduction
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Spatial variation of currents and fields due to localized scatterers in metallic conduction

LANDAUER, R

IBM journal of research and development, 1988-05, Vol.32 (3), p.306-316 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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6
What is measured when you measure a resistance? The Landauer formula revisited
What is measured when you measure a resistance? The Landauer formula revisited
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What is measured when you measure a resistance? The Landauer formula revisited

STONE, A. D ; SZAFER, A

IBM journal of research and development, 1988-05, Vol.32 (3), p.384-413 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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7
Scanning tunneling microscopy
Scanning tunneling microscopy
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Scanning tunneling microscopy

BINNIG, G ; ROHRER, H

IBM journal of research and development, 1986-07, Vol.30 (4), p.355-369 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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8
Notes on the history of reversible computation
Notes on the history of reversible computation
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Notes on the history of reversible computation

Bennett, Charles H.

IBM journal of research and development, 1988-01, Vol.32 (1), p.16-23 [Periódico revisado por pares]

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9
Numerical calculation of the fluid dynamics of drop-on-demand jets
Numerical calculation of the fluid dynamics of drop-on-demand jets
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Numerical calculation of the fluid dynamics of drop-on-demand jets

FROMM, J. E

IBM journal of research and development, , Vol.28 (3), p.322-333 [Periódico revisado por pares]

Armonk, NY: International Business Machines

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10
Relative stability in nonuniform temperature
Relative stability in nonuniform temperature
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Relative stability in nonuniform temperature

van Kampen, N. G.

IBM journal of research and development, 1988-01, Vol.32 (1), p.107-111 [Periódico revisado por pares]

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