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How to Identify a Bathtub Hazard Rate
How to Identify a Bathtub Hazard Rate
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How to Identify a Bathtub Hazard Rate

Aarset, Magne Vollan

IEEE transactions on reliability, 1987-04, Vol.R-36 (1), p.106-108 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Sequential imperfect preventive maintenance policies
Sequential imperfect preventive maintenance policies
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Sequential imperfect preventive maintenance policies

Nakagawa, T.

IEEE transactions on reliability, 1988-08, Vol.37 (3), p.295-298 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Fault tree analysis, methods, and applications. A review
Fault tree analysis, methods, and applications. A review
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Fault tree analysis, methods, and applications. A review

LEE, W. S ; GROSH, D. L ; TILLMAN, F. A ; LIE, C. H

IEEE transactions on reliability, 1985-01, Vol.34 (3), p.194-203 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

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4
Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An Overview
Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An Overview
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Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An Overview

Ball, Michael O.

IEEE transactions on reliability, 1986, Vol.35 (3), p.230-239 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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S-Shaped Reliability Growth Modeling for Software Error Detection
S-Shaped Reliability Growth Modeling for Software Error Detection
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S-Shaped Reliability Growth Modeling for Software Error Detection

Yamada, Shigeru ; Ohba, Mitsuru ; Osaki, Shunji

IEEE transactions on reliability, 1983-12, Vol.R-32 (5), p.475-484 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components
Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components
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Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate Components

Aven, Terje

IEEE transactions on reliability, 1985-12, Vol.R-34 (5), p.473-479 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
On Closure of the IFR Class Under Formation of Coherent Systems
On Closure of the IFR Class Under Formation of Coherent Systems
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On Closure of the IFR Class Under Formation of Coherent Systems

Samaniego, Francisco J.

IEEE transactions on reliability, 1985-04, Vol.R-34 (1), p.69-72 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
On Multistate System Analysis
On Multistate System Analysis
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On Multistate System Analysis

Janan, Xue

IEEE transactions on reliability, 1985-01, Vol.R-34 (4), p.329-337 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Reliability Modeling Using SHARPE
Reliability Modeling Using SHARPE
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Reliability Modeling Using SHARPE

Sahner, Robin A. ; Trivedi, Kishor S.

IEEE transactions on reliability, 1987-06, Vol.R-36 (2), p.186-193 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Time-Dependent Error-Detection Rate Model for Software Reliability and Other Performance Measures
Time-Dependent Error-Detection Rate Model for Software Reliability and Other Performance Measures
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Time-Dependent Error-Detection Rate Model for Software Reliability and Other Performance Measures

Goel, Amrit L. ; Okumoto, Kazu

IEEE transactions on reliability, , Vol.R-28 (3), p.206-211 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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