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Refinado por: assunto: Computer Science, Software Engineering remover Nome da Publicação: Ieee Transactions On Reliability remover
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1
The Use of Security Tactics in Open Source Software Projects
The Use of Security Tactics in Open Source Software Projects
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The Use of Security Tactics in Open Source Software Projects

Jungwoo Ryoo ; Malone, Bryan ; Laplante, Phillip A. ; Anand, Priya

IEEE transactions on reliability, 2016-09, Vol.65 (3), p.1195-1204 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
An Approach to Generate the Traceability Between Restricted Natural Language Requirements and AADL Models
An Approach to Generate the Traceability Between Restricted Natural Language Requirements and AADL Models
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An Approach to Generate the Traceability Between Restricted Natural Language Requirements and AADL Models

Wang, Fei ; Yang, Zhi-Bin ; Huang, Zhi-Qiu ; Liu, Cheng-Wei ; Zhou, Yong ; Bodeveix, Jean-Paul ; Filali, Mamoun

IEEE transactions on reliability, 2020-03, Vol.69 (1), p.154-173 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
Optimal Allocation of Testing Effort Considering Software Architecture
Optimal Allocation of Testing Effort Considering Software Architecture
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Optimal Allocation of Testing Effort Considering Software Architecture

Fiondella, L. ; Gokhale, S. S.

IEEE transactions on reliability, 2012-06, Vol.61 (2), p.580-589 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Analysis of a Fault-Tolerant Framework for Reliability Prediction of Service-Oriented Architecture Systems
Analysis of a Fault-Tolerant Framework for Reliability Prediction of Service-Oriented Architecture Systems
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Analysis of a Fault-Tolerant Framework for Reliability Prediction of Service-Oriented Architecture Systems

Chiang, Meng-Chu ; Huang, Chin-Yu ; Wu, Cheng-Yang ; Tsai, Chun-Ying

IEEE transactions on reliability, 2021-03, Vol.70 (1), p.13-48 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
A Formal Verification Method for the SOPC Software
A Formal Verification Method for the SOPC Software
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A Formal Verification Method for the SOPC Software

Zhou, Shan ; Wang, Jinbo ; Jia, Jiao ; Zhang, Chi ; Wang, Ruixue

IEEE transactions on reliability, 2022-06, Vol.71 (2), p.818-829 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
RUL Prediction Using a Fusion of Attention-Based Convolutional Variational AutoEncoder and Ensemble Learning Classifier
RUL Prediction Using a Fusion of Attention-Based Convolutional Variational AutoEncoder and Ensemble Learning Classifier
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RUL Prediction Using a Fusion of Attention-Based Convolutional Variational AutoEncoder and Ensemble Learning Classifier

Remadna, Ikram ; Terrissa, Labib Sadek ; Al Masry, Zeina ; Zerhouni, Noureddine

IEEE transactions on reliability, 2023-03, Vol.72 (1), p.106-124 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
AXI Lite Redundant On-Chip Bus Interconnect for High Reliability Systems
AXI Lite Redundant On-Chip Bus Interconnect for High Reliability Systems
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AXI Lite Redundant On-Chip Bus Interconnect for High Reliability Systems

Lazaro, Jesus ; Astarloa, Armando ; Zuloaga, Aitzol ; Araujo, Jose Angel ; Jimenez, Jaime

IEEE transactions on reliability, 2024-03, Vol.73 (1), p.602-607 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
Intelligent Diagnosis Using Continuous Wavelet Transform and Gauss Convolutional Deep Belief Network
Intelligent Diagnosis Using Continuous Wavelet Transform and Gauss Convolutional Deep Belief Network
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Intelligent Diagnosis Using Continuous Wavelet Transform and Gauss Convolutional Deep Belief Network

Zhao, Huimin ; Liu, Jie ; Chen, Huayue ; Chen, Jie ; Li, Yang ; Xu, Junjie ; Deng, Wu

IEEE transactions on reliability, 2023-06, Vol.72 (2), p.692-702 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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9
Failure Prognosis and Applications-A Survey of Recent Literature
Failure Prognosis and Applications-A Survey of Recent Literature
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Failure Prognosis and Applications-A Survey of Recent Literature

Kordestani, Mojtaba ; Saif, Mehrdad ; Orchard, Marcos E. ; Razavi-Far, Roozbeh ; Khorasani, Khashayar

IEEE transactions on reliability, 2021-06, Vol.70 (2), p.728-748 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Efficient Software Reliability Analysis With Correlated Component Failures
Efficient Software Reliability Analysis With Correlated Component Failures
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Efficient Software Reliability Analysis With Correlated Component Failures

Fiondella, L. ; Rajasekaran, S. ; Gokhale, S. S.

IEEE transactions on reliability, 2013-03, Vol.62 (1), p.244-255 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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