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How to Identify a Bathtub Hazard Rate
How to Identify a Bathtub Hazard Rate
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How to Identify a Bathtub Hazard Rate

Aarset, Magne Vollan

IEEE transactions on reliability, 1987-04, Vol.R-36 (1), p.106-108 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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PARLE '91 Parallel Architectures and Languages Europe: Volume I: Parallel Architectures and Algorithms Eindhoven, The Netherlands, June 10–13, 1991 Proceedings
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PARLE '91 Parallel Architectures and Languages Europe: Volume I: Parallel Architectures and Algorithms Eindhoven, The Netherlands, June 10–13, 1991 Proceedings

Aarts, Emile H. L ; Leeuwen, Jan van ; Rem, Martin

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg 1991

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Parle '91 Parallel Architectures and Languages Europe: Volume I: Parallel Architectures and Algorithms Eindhoven, the Netherlands, June 10-13, 1991 Proceedings
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Parle '91 Parallel Architectures and Languages Europe: Volume I: Parallel Architectures and Algorithms Eindhoven, the Netherlands, June 10-13, 1991 Proceedings

Aarts, Emile H. L ; van Leeuwen, Jan ; Rem, Martin Aarts, Emile H. L. ; Rem, Martin ; van Leeuwen, Jan

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin / Heidelberg 1987

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Parallel implementations of the statistical cooling algorithm
Parallel implementations of the statistical cooling algorithm
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Parallel implementations of the statistical cooling algorithm

Aarts, Emile H.L. ; de Bont, Frans M.J. ; Habers, Erik H.A. ; van Laarhoven, Peter J.M.

Integration (Amsterdam), 1986-09, Vol.4 (3), p.209-238 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Statistical Evaluation of Learning Factor in Reliability Studies
Statistical Evaluation of Learning Factor in Reliability Studies
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Statistical Evaluation of Learning Factor in Reliability Studies

Abadeer, W. W.

IEEE transactions on reliability, 1980-12, Vol.R-29 (5), p.414-415 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware
Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware
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Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware

Abadir, M S ; Breuer, M A

IEEE transactions on computers, 1986-04, Vol.C-35 (4), p.361-367 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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LSI Testing Techniques
LSI Testing Techniques
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LSI Testing Techniques

Abadir, M. S. ; Reghbati, H. K.

IEEE MICRO, 1983-01, Vol.3 (1), p.34-51 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams
Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams
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Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams

ABADIR, M. S ; REGHBATI, H. K

IEEE transactions on computers, 1986-04, Vol.C-35 (4), p.375-379 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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A Knowledge-Based System for Designing Testable VLSI Chips
A Knowledge-Based System for Designing Testable VLSI Chips
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A Knowledge-Based System for Designing Testable VLSI Chips

Abadir, Magdy S. ; Breuer, Melvin A.

IEEE design & test of computers, 1985-08, Vol.2 (4), p.56-68

IEEE Computer Society

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Logic design verification via test generation
Logic design verification via test generation
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Logic design verification via test generation

Abadir, M.S. ; Ferguson, J. ; Kirkland, T.E.

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1988-01, Vol.7 (1), p.138-148 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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