Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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How to Identify a Bathtub Hazard RateAarset, Magne VollanIEEE transactions on reliability, 1987-04, Vol.R-36 (1), p.106-108 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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2 |
Material Type: Artigo
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Sequential imperfect preventive maintenance policiesNakagawa, T.IEEE transactions on reliability, 1988-08, Vol.37 (3), p.295-298 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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3 |
Material Type: Artigo
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Computational Complexity of Network Reliability Analysis: An OverviewBall, Michael O.IEEE transactions on reliability, 1986, Vol.35 (3), p.230-239 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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4 |
Material Type: Artigo
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Reliability Evaluation of Multistate Systems with Multistate ComponentsAven, TerjeIEEE transactions on reliability, 1985-12, Vol.R-34 (5), p.473-479 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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5 |
Material Type: Artigo
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On Closure of the IFR Class Under Formation of Coherent SystemsSamaniego, Francisco J.IEEE transactions on reliability, 1985-04, Vol.R-34 (1), p.69-72 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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6 |
Material Type: Artigo
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On Multistate System AnalysisJanan, XueIEEE transactions on reliability, 1985-01, Vol.R-34 (4), p.329-337 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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7 |
Material Type: Artigo
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Cost Optimization of Periodic Preventive MaintenanceCanfield, R. V.IEEE transactions on reliability, 1986-04, Vol.35 (1), p.78-81 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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8 |
Material Type: Artigo
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Synthesis of reliable networks - a surveyBoesch, F. T.IEEE transactions on reliability, 1986-08, Vol.35 (3), p.240-246 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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9 |
Material Type: Artigo
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Reliability of Consecutive-k-out-of-n:F Systems with (k-1)-step Markov DependenceFu, James C.IEEE transactions on reliability, 1986-12, Vol.35 (5), p.602-606 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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10 |
Material Type: Artigo
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Accelerated Life Testing - Step-Stress Models and Data AnalysesNelson, WayneIEEE transactions on reliability, 1980-06, Vol.R-29 (2), p.103-108 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |