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0.3 pJ/Bit Machine Learning Resistant Strong PUF Using Subthreshold Voltage Divider Array
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0.3 pJ/Bit Machine Learning Resistant Strong PUF Using Subthreshold Voltage Divider Array

Venkatesh, Abilash ; Venkatasubramaniyan, Aishwarya Bahudhanam ; Xi, Xiaodan ; Sanyal, Arindam

IEEE transactions on circuits and systems. II, Express briefs, 2020-08, Vol.67 (8), p.1394-1398 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
0.5-V 4-MB Variation-Aware Cache Architecture Using 7T/14T SRAM and Its Testing Scheme
0.5-V 4-MB Variation-Aware Cache Architecture Using 7T/14T SRAM and Its Testing Scheme
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0.5-V 4-MB Variation-Aware Cache Architecture Using 7T/14T SRAM and Its Testing Scheme

Nakata, Yohei ; Okumura, Shunsuke ; Kawaguchi, Hiroshi ; Yoshimoto, Masahiko

Information and Media Technologies, 2012, Vol.7(2), pp.544-555

Tokyo: Information and Media Technologies Editorial Board

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3
0.77 fJ/bit/search Content Addressable Memory Using Small Match Line Swing and Automated Background Checking Scheme for Variation Tolerance
0.77 fJ/bit/search Content Addressable Memory Using Small Match Line Swing and Automated Background Checking Scheme for Variation Tolerance
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0.77 fJ/bit/search Content Addressable Memory Using Small Match Line Swing and Automated Background Checking Scheme for Variation Tolerance

Anh Tuan Do ; Chun Yin ; Velayudhan, Kavitha ; Zhao Chuan Lee ; Kiat Seng Yeo ; Kim, Tony Tae-Hyoung

IEEE journal of solid-state circuits, 2014-07, Vol.49 (7), p.1487-1498 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
A 0.016 mV/mA Cross-Regulation 5-Output SIMO DC-DC Buck Converter Using Output-Voltage-Aware Charge Control Scheme
A 0.016 mV/mA Cross-Regulation 5-Output SIMO DC-DC Buck Converter Using Output-Voltage-Aware Charge Control Scheme
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A 0.016 mV/mA Cross-Regulation 5-Output SIMO DC-DC Buck Converter Using Output-Voltage-Aware Charge Control Scheme

Ngoc-Son Pham ; Taegeun Yoo ; Kim, Tony Tae-Hyoung ; Chan-Gun Lee ; Kwang-Hyun Baek

IEEE transactions on power electronics, 2018-11, Vol.33 (11), p.9619-9630 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
A 0.027-mm2 Self-Calibrating Successive Approximation ADC Core in 0.18-.MU.m CMOS
A 0.027-mm2 Self-Calibrating Successive Approximation ADC Core in 0.18-.MU.m CMOS
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A 0.027-mm2 Self-Calibrating Successive Approximation ADC Core in 0.18-.MU.m CMOS

KURAMOCHI, Yasuhide ; MATSUZAWA, Akira ; KAWABATA, Masayuki

IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer sciences, 2009, Vol.E92-A (2), p.360-366 [Periódico revisado por pares]

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6
A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation
A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation
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A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation

Alameh, Abdul Hafiz ; Nabki, Frederic

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-04, Vol.25 (4), p.1261-1270 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
A 0.18  m CMOS 3rd-Order Digitally Programmable Gm-C Filter for VHF Applications
A 0.18  m CMOS 3rd-Order Digitally Programmable Gm-C Filter for VHF Applications
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A 0.18  m CMOS 3rd-Order Digitally Programmable Gm-C Filter for VHF Applications

OTIN, A.

IEICE transactions on information and systems, 2005-07, Vol.E88-D (7), p.1509-1510 [Periódico revisado por pares]

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8
A 0.3V VDDmin 4+2T SRAM for searching and in-memory computing using 55nm DDC technology
A 0.3V VDDmin 4+2T SRAM for searching and in-memory computing using 55nm DDC technology
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.3V VDDmin 4+2T SRAM for searching and in-memory computing using 55nm DDC technology

Qing Dong ; Jeloka, Supreet ; Saligane, Mehdi ; Yejoong Kim ; Kawaminami, Masaru ; Harada, Akihiko ; Miyoshi, Satoru ; Blaauw, David ; Sylvester, Dennis

2017 Symposium on VLSI Circuits, 2017, p.C160-C161

JSAP

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A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator
A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator

Kwon, Chan-Keun ; Kim, Hoonki ; Park, Jongsun ; Kim, Soo-Won

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2016-03, Vol.24 (3), p.1184-1188 [Periódico revisado por pares]

New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)

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A 0.4-V 10.9- \mu W/Pole Third-Order Complex BPF for Low Energy RF Receivers
A 0.4-V 10.9- \mu W/Pole Third-Order Complex BPF for Low Energy RF Receivers
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A 0.4-V 10.9- \mu W/Pole Third-Order Complex BPF for Low Energy RF Receivers

Compassi-Severo, Lucas ; Van Noije, Wilhelmus

IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2019-06, Vol.66 (6), p.2017-2026 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Deste Autor:

  1. Futagawa, Y
  2. Pfeiffer, B
  3. Takamatsu, S
  4. Stewart, D
  5. Fukunaga, F

Neste Assunto:

  1. Science & Technology
  2. Technology
  3. Computer Science
  4. Engineering
  5. Computer Science, Hardware & Architecture

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