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Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos da família das silenitas do tipo 'Bi IND.12''SiO IND.20' (BSO)

Marcos Roberto da Rocha Gesualdi Mikiya Muramatsu

2000

Localização: IF - Instituto de Física    (535 G393t M Ex.2 )(Acessar)

  • Título:
    Técnicas de interferometria holográfica usando cristais fotorrefrativos da família das silenitas do tipo 'Bi IND.12''SiO IND.20' (BSO)
  • Autor: Marcos Roberto da Rocha Gesualdi
  • Mikiya Muramatsu
  • Assuntos: FÍSICA; ÓPTICA
  • Notas: Dissertação (Mestrado)
  • Descrição: O objetivo deste trabalho é o desenvolvimento de um Interferômetro Holográfico que usa o Cristal Fotorrefrativo da Família das Silenitas 'Bi IND.12''SiO IND.20' (BSO) como meio de registro holográfico. Este instrumento, que visa aplicações em pesquisa básica, biomédicas e tecnológicas, é a base para a optimização de uma câmera holográfica para quantificação de medidas na análise de superfícies. O estado da arte do uso dos cristais fotorrefrativos em interferometria holográfica também é apresentado. Os cristais fotorrefrativos da família das silenitas 'Bi IND.12''SiO IND.20' (BSO) vêm se apresentando como um meio atrativo para registro de hologramas em interferometria holográfica para holografia em tempo real, pois os processos são dinâmicos e reversíveis. Neste sentido, buscamos caracterizar o cristal BSO determinando as figuras de mérito no regime de difusão (sem aplicação de campo elétrico externo e exibindo configuração de anisotropia de difração) e no regime de arraste (com aplicação de campo elétrico externo) que nos permitirá optimizar o cristal como meio de registro holográfico. As técnicas de metrologia holográficas representadas nos três métodos: Interferometria Holográfica em Tempo Real(RTHI), Interferometria Holográfica de Dupla Exposição (2EHI), e Interferometria Holográfica em Média Temporal (TAHI); foram estudadas para determinar a técnica mais adequada a cada situação na análise de processos estáticos e dinâmicos em superfícies
  • Data de criação/publicação: 2000
  • Formato: 103 p.
  • Idioma: Português

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