Machine Learning Applied to Software Testing: A Systematic Mapping Study

Durelli, Vinicius H. S. ; Durelli, Rafael S. ; Borges, Simone S. ; Endo, Andre T. ; Eler, Marcelo M. ; Dias, Diego R. C. ; Guimaraes, Marcelo P.

IEEE transactions on reliability, 2019-09, Vol.68 (3), p.1189-1212 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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