Idioma:

Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística (PROD-1722632 )(Acessar)

Título:
Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Autor: Ricardo Luiz de Andrade Abrantes
Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura
Assuntos: OTIMIZAÇÃO COMBINATÓRIA
É parte de: Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008
Notas: Disponível em: https://doi.org/10.1364/ao.47.005208. Acesso em: 23 fev. 2021
Editor: Washington
Data de criação/publicação: 2008
Formato: p. 5208-5220.
Idioma: Inglês

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