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Arquitetura
de aquisição de sinais para tomografia por impedância elétrica.
Santos, André Luis Dos
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações
da
USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica 2016-05-30
Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.
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Título:
Arquitetura
de aquisição de sinais para tomografia por impedância elétrica.
Autor:
Santos, André Luis Dos
Orientador:
Lima, Raúl González
Assuntos:
Microprocessadores
;
Processamento De Sinais
;
Tomografia
;
Microprocessors
;
Signal Processing
;
Tomography
Notas:
Dissertação (Mestrado)
Notas Locais:
Programa Engenharia Mecânica
Descrição:
Grupos de pesquisa espalhados pelo mundo vêm empregando a Tomografia por Impedância Elétrica (TIE) em aplicações médicas. Entretanto estas pesquisas vem sendo limitadas pelos sistemas de aquisição atualmente empregados, que, frequentemente, n~ao possuem a flexibilidade em termos de números de canais, capacidade de sincronismo temporal e velocidade exigidos nas pesquisas mais recentes. Para facilitar o progresso das pesquisas este trabalho propõe uma
arquitetura
aberta para aquisição, transferência e armazenamento de sinais. A
arquitetura
proposta compreende unidades de medição e processamento de sinais, chamadas Canais de Medição. Cada canal de medição é composto por três módulos, o Condicionador de Sinal, o Conversor AD e o Demodulador. Um módulo Supervisor, que essencialmente é um software de configuração e armazenamento, possibilita o controle e monitoramento destes canais através de um módulo Concentrador, que gerencia um barramento de comunicação. Estes módulos, operando em conjunto, têm desempenho equiparável às soluções existentes, porém com ganho de flexibilidade e velocidade. Manutenção e modificações da arquitetura ficam facilitadas pela estrutura modular, aspecto importante nos ambientes de pesquisa. Os dados são armazenados em banco de dados, com a velocidade de coleta compatível com estimação de 50 imagens de TIE por segundo.
DOI:
10.11606/D.3.2016.tde-25082016-091337
Editor:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações
da
USP; Universidade de São Paulo; Escola Politécnica
Data de criação/publicação:
2016-05-30
Formato:
Adobe PDF
Idioma:
Português
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