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Influence of temperature on microelectronics and system reliability

Pradeep Lall Michael Pecht; Edward B Hakim

Boca Raton CRC Press c1997

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (621.3.049.77 L154i )(Acessar)

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