Correlating pattern grime and quality attributes
Daniel Feitosa Apostolos Ampatzoglou; Paris Avgeriou; Elisa Yumi Nakagawa
IEEE Access Piscataway v. 6, p. 23065-23078, 2018
Piscataway 2018
Localização:
ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação
(PROD 2888073 )(Acessar)