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Idioma:

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Joseph Newbury, Dale E. Joy, David C. Goldstein Patrick Echlin; David C Joy; Eric Lifshin; Charles E Lyman; J.R Michael; Dale E Newbury; Linda Sawyer; Linda C Sawyer

Springer US 2003

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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