Idioma:

Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores

Renato S. Lima Ubirajara Pereira Rodrigues Filho; Pedro A. P Nascente; Wendell Karlos Tomazelli Coltro; Emanuel Carrilho; Encontro Nacional de Química Analítica (ENQA) (15. 2009 Salvador

Resumos Salvador, [s.n.], 2009

Disponible en IQSC - Inst. Química de São Carlos (P11688 ) y otras localizaciones(Obténgalo)

Título:
Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores
Autor: Renato S. Lima
Ubirajara Pereira Rodrigues Filho; Pedro A. P Nascente; Wendell Karlos Tomazelli Coltro; Emanuel Carrilho; Encontro Nacional de Química Analítica (ENQA) (15. 2009 Salvador
Materias: QUÍMICA ANALÍTICA; MICROSCOPIA
Es parte de: Resumos Salvador, [s.n.], 2009
Notas: Em CD-ROM
Editor: Salvador s. n.
Fecha de creación: 2009
Formato: 1 CD-ROM.
Idioma: Portugués

Enlaces

Volver a la lista de resultados

Anterior Resultado 6 Siguiente Ir a la siguiente página