Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples
M. L. Miguez E. C Barbano; J. A Coura; Sérgio Carlos Zílio; Lino Misoguti
Applied Physics B Heildelberg : Springer v. 120, n. 4, p. 653-658, Sept. 2015Heidelberg 2015
Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD023798 )(Acessar)