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Influence of temperature and heat flux time lags on the temperature distribution in modern GAAFET structure based on Dual-Phase-Lag thermal model

Raszkowski, Tomasz ; Samson, Agnieszka ; Zubert, Mariusz

Microelectronics and reliability, 2018-07, Vol.86, p.10-19 [Revista revisada por pares]

Elsevier Ltd

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